表面無(wú)損檢測(cè)技術(shù)

第1章 目視檢測(cè)
1．1 概述
1．2 目視檢測(cè)的理論基礎(chǔ)
1．2．1 光學(xué)中的基本物理量
1．2．2 人眼的生理學(xué)特點(diǎn)及圖像形成
1．3 目視檢測(cè)設(shè)備
1．3．1 放大鏡
1．3．2 內(nèi)窺鏡
1．3．3 內(nèi)窺鏡檢查的基本要素
1．4 目視檢測(cè)技術(shù)
1．4．1 內(nèi)窺鏡檢測(cè)的程序
1．4．2 內(nèi)窺鏡的應(yīng)用范圍
1．4．3 內(nèi)窺鏡檢測(cè)的判定規(guī)則
1．4．4 內(nèi)窺鏡檢測(cè)的主要影響因素
1．5 偏視技術(shù)的應(yīng)用
1．6 目視檢測(cè)技術(shù)的新進(jìn)展
1．7 應(yīng)用實(shí)例
第2章 紅外檢測(cè)
2．1 概述
2．2 紅外檢測(cè)的理論基
2．2．1 紅外輻射的基本概念
2．2．2 紅外輻射的基本定律
2．2．3 紅外輻射的傳輸與衰減
2．2．4 紅外熱成像的基本原理
2．3 紅外檢測(cè)系統(tǒng)
2．3．1 紅外探測(cè)器
2．3．2 常用的紅外檢測(cè)儀器
2．4 紅外檢測(cè)技術(shù)
2．4．1 檢測(cè)方式
2．4．2 激勵(lì)源和激勵(lì)方式
2．4．3 缺陷的判定
2．5 紅外檢測(cè)技術(shù)的新進(jìn)展
2．6 應(yīng)用實(shí)例
第3章 超聲檢測(cè)
3．1 概述
3．2 超聲檢測(cè)的理論基
3．2．1 機(jī)械波
3．2．2 波動(dòng)方程
3．2．3 描述超聲波的基本物理量
3．2．4 超聲波的分類(lèi)
3．2．5 超聲場(chǎng)及其特征量
3．2．6 超聲波的傳播特性
3．2．7 超聲波的聲場(chǎng)特性
3．2．8 固體介質(zhì)中的脈沖波聲場(chǎng)
3．3 超聲檢測(cè)設(shè)備
3．3．1 超聲波檢測(cè)儀
3．3．2 超聲波檢測(cè)儀的主要性能指標(biāo)
3．3．3 超聲波探頭
3．3．4 超聲波探頭的種類(lèi)和結(jié)構(gòu)
3．3．5 超聲波試塊
3．3．6 耦合劑
3．4 超聲表面波檢測(cè)技術(shù)
3．4．1 表面波
3．4．2 表面波的產(chǎn)生
3．4．3 表面波的聲學(xué)特性
3．4．4 表面波的傳播
3．4．5 爬波
3．5 應(yīng)用實(shí)例
第4章 磁粉檢測(cè)
4．1 概述
4．2 磁粉檢測(cè)的理論基礎(chǔ)
4．2．1 磁的基本現(xiàn)象
4．2．2 磁場(chǎng)的基本物理量
4．2．3 磁介質(zhì)
4．2．4 磁化曲線和磁滯回線
4．2．5 鐵磁性材料
4．2．6 磁化過(guò)程
4．2．7 典型電流磁場(chǎng)及其分布
4．2．8 通電圓柱導(dǎo)體的磁場(chǎng)
4．2．9 退磁場(chǎng)
4．2．10 磁路定理及其影響因素
4．2．11 漏磁場(chǎng)
4．3 磁粉檢測(cè)材料及設(shè)備
4．3．1 磁粉
4．3．2 磁懸液
4．3．3 反差增強(qiáng)劑
4．3．4 標(biāo)準(zhǔn)試片和試塊
4．4 磁粉檢測(cè)技術(shù)
4．4．1 磁化電流
4．4．2 磁化方法
4．4．3 磁化規(guī)范
4．4．4 磁粉檢測(cè)工藝流程及方法
4．4．5 磁痕分析與評(píng)定
4．5 磁粉檢測(cè)的應(yīng)用實(shí)例及新進(jìn)展
4．5．1 脈沖漏磁技術(shù)檢測(cè)表面裂紋
4．5．2 變頻非接觸式磁化技術(shù)
4．5．3 基于可磁極化納米流體的缺陷檢測(cè)
第5章 渦流檢測(cè)
5．1 概述
5．2 渦流檢測(cè)的理論基礎(chǔ)
5．2．1 交流電路
5．2．2 阻抗及其矢量圖
5．2．3 電磁感應(yīng)
5．2．4 渦流
5．2．5 趨膚效應(yīng)與滲透深度
5．3 渦流檢測(cè)阻抗分析法
5．3．1 線圈的阻抗及其歸一化
5．3．2 有效磁導(dǎo)率和特征頻率
5．3．3 線圈的阻抗平面分析
5．4 渦流檢測(cè)設(shè)備
5．4．1 渦流檢測(cè)線圈
5．4．2 渦流檢測(cè)儀器
5．4．3 渦流檢測(cè)輔助裝置
5．4．4 渦流檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊
5．5 渦流檢測(cè)技術(shù)
5．5．1 渦流檢測(cè)信號(hào)處理技術(shù)
5．5．2 渦流探傷
5．5．3 渦流電導(dǎo)率測(cè)+量和材質(zhì)分選
5．5．4 渦流厚度測(cè)量
5．6 渦流檢測(cè)技術(shù)的新進(jìn)展
5．6．1 遠(yuǎn)場(chǎng)渦流檢測(cè)技術(shù)
5．6．2 脈沖渦流檢測(cè)技術(shù)
5．6．3 渦流陣列檢測(cè)技術(shù)
第6章 滲透檢測(cè)
6．1 概述
6．2 滲透檢測(cè)的理論基礎(chǔ)
6．2．1 表面張力
6．2．2 潤(rùn)濕現(xiàn)象
6．2．3 毛細(xì)現(xiàn)象
6．2．4 表面活性和表面活性劑
6．2．5 乳化現(xiàn)象
6．2．6 凝膠現(xiàn)象
6．2．7 吸附現(xiàn)象
6．2．8 滲透檢測(cè)中的光學(xué)基礎(chǔ)
知識(shí)
6．3 滲透檢測(cè)材料及設(shè)備
6．3．1 滲透檢測(cè)材料
6．3．2 滲透檢測(cè)設(shè)備
6．4 滲透檢測(cè)技術(shù)
6．4．1 滲透檢測(cè)方法分類(lèi)
6．4．2 滲透檢測(cè)的基本程序
6．4．3 滲透檢測(cè)的基本工藝
6．4．4 典型滲透檢測(cè)方法
6．5 應(yīng)用實(shí)例
6．5．1 人工關(guān)節(jié)的滲透檢測(cè)
6．5．2 軸流風(fēng)機(jī)的滲透檢測(cè)
第7章 其他表面無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
7．1 巴克豪森噪聲檢測(cè)技術(shù)
7．1．1 巴克豪森效應(yīng)
7．1．2 巴克豪森噪聲檢測(cè)的特點(diǎn)
7．1．3 巴克豪森噪聲檢測(cè)的影響因素
7．1．4 巴克豪森噪聲檢測(cè)儀器
7．1．5 檢測(cè)參數(shù)的選擇
7．1．6 應(yīng)用領(lǐng)域
7．2 漏磁場(chǎng)檢測(cè)技術(shù)
7．2．1 缺陷的漏磁場(chǎng)
7．2．2 漏磁場(chǎng)檢測(cè)技術(shù)的特點(diǎn)
7．2．3 漏磁場(chǎng)檢測(cè)的磁化技術(shù)
7．2．4 漏磁場(chǎng)檢測(cè)的影響因素
7．2．5 漏磁場(chǎng)檢測(cè)儀器
7．2．6 漏磁信號(hào)處理
7．2．7 漏磁檢測(cè)應(yīng)用領(lǐng)域
7．2．8 多頻漏磁檢測(cè)技術(shù)
7．3 電流微擾檢測(cè)技術(shù)
7．4 帶電粒子檢測(cè)技術(shù)
7．5 電暈放電檢測(cè)技術(shù)
附錄
附錄1 無(wú)損檢測(cè)相關(guān)學(xué)術(shù)期刊
附錄2 部分工業(yè)無(wú)損檢測(cè)常用標(biāo)準(zhǔn)
附錄3 常用符號(hào)表