1 統(tǒng)計技術基礎
1．1 引言
1．2 數(shù)據收集
1．2．1 總體與樣本
1．2．2 數(shù)據的分類
1．2．3 數(shù)據收集的目的
1．3 質量變異的描述
1．3．1 系統(tǒng)因素與非系統(tǒng)因素
1．3．2 產品質量波動
1．4 質量管理中的常用分布
1．4．1 二項分布
1．4．2 泊松分布
1．4．3 超幾何分布
1．4．4 正態(tài)分布
2 調查表與分層
2．1 調查表
2．2 調查表的用途和種類
2．3 調查表的應用步驟
2．4 注意事項
2．5 應用實例
2．5．1 缺陷位置調查表
2．5．2 不良項目調查表
2．5．3 不良原因調查表
2．5．4 質量分布調查表
2．6 分層
2．7 應用實例
3 排列圖
3．1 排列圖
3．2 應用場合
3．3 排列圖的應用步驟
3．4 注意事項
3．5 排列圖的應用
3．5．1 分析主要缺陷形式
3．5．2 分析不合格的原因
4 因果圖
4．1 因果圖
4．2 因果圖的制作步驟
4．3 繪制因果圖的注意事項
4．4 如何確定主要原因
4．4．1 逐條識別
4．4．2 確定程序
4．4．3 確定方法
4．5 確定主要原因不正確的方法
4．6 因果圖的類型
5 相關與回歸分析
5．1 相關與回歸概念
5．1．1 確定性關系與相關關系
5．1．2 相關分析與回歸分析
5．1．3 相關分析與回歸分析的區(qū)別與聯(lián)系
5．1．4 相關分析應注意的問題
5．2 相關分析
5．2．1 散布圖
5．2．2 散布圖的意義和作用
5．2．3 散布圖的分析和判斷
5．2．4 相關系數(shù)判別法
5．2．5 散布圖的繪制
5．2．6 應用示例
5．3 一元線性回歸
5．3．1 模型
5．3．2 回歸系數(shù)的最小二乘估計及其性質
5．3．3 一元線性回歸方程的顯著性檢驗
5．3．4 一元線性回歸方程總效果的度量
5．3．5 回歸系數(shù)的顯著性檢驗
5．3．6 回歸方程的失擬性檢驗
5．3．7 回歸方程殘差診斷
5．3．8 利用回歸方程進行預測
5．3．9 利用回歸方程進行控制
6 直方圖
6．1 數(shù)據分布
6．2 數(shù)據的波動性和規(guī)律性
6．3 直方圖的原理
6．4 直方圖的作用
6．5 直方圖的作圖步驟
6．6 直方圖的應用示例
6．7 直方圖的觀察與分析
6．7．1 分布形狀分析與判斷
6．7．2 直方圖與規(guī)格（標準）相比較
6．8 直方圖的分層處理
7 控制圖
7．1 統(tǒng)計過程控制簡介
7．1．1 統(tǒng)計過程控制技術的發(fā)展
7．1．2 統(tǒng)計過程控制的理論基礎
7．1．3 統(tǒng)計控制圖的分類
7．2 統(tǒng)計控制圖的原理
7．2．1 統(tǒng)計控制圖的原理與構造
7．2．2 統(tǒng)計控制圖的兩類錯誤
7．2．3 判斷過程正常的準則
7．2．4 判斷過程異常的準則
7．2．5 常規(guī)控制圖判斷準則的使用
7．3 常規(guī)控制圖作圖方法
7．3．1 建立控制圖的預備工作
7．3．2 計量值控制圖應用步驟
7．4 應用統(tǒng)計控制圖應注意的問題
8 常規(guī)計量值控制圖
8．1 均值—極差控制圖
8．1．1 ▔ⅹ-R控制圖，標準值給定
8．1．2 ▔ⅹ-R控制圖，標準值未給定
8．2 均值—標準差控制圖（▔ⅹ-s控制圖）
8．3 單值—移動極差控制圖（▔ⅹ-R8控制圖）
8．4 中位數(shù)一極差控制圖（Me-R控制圖）
9 常規(guī)計數(shù)值控制圖
9．1 不合格品率控制圖（p圖）
9．2 不合格品數(shù)控制圖（np圖）
9．3 缺陷數(shù)控制圖（c圖）
9．3．1 c控制圖的原理
9．3．2 c控制圖的繪制
9．4 單位缺陷數(shù)控制圖（μ圖）
9．4．1 μ控制圖的原理
9．4．2 μ控制圖的繪制
10 過程能力分析
10．1 過程能力和過程能力指數(shù)
10．1．1 過程能力
10．1．2 過程能力指數(shù)
10．1．3 過程不合格品率的計算
10．2 過程能力的評價
10．2．1 過程能力的判定
10．2．2 提高過程能力的對策
10．2．3 提高過程能力指數(shù)的措施
10．3 過程能力調查
10．3．1 過程能力調查流程
10．3．2 過程能力調查的方法
10．3．3 計量數(shù)據的過程能力分析
10．3．4 計點值數(shù)據的過程能力分析
10．3．5 計件值數(shù)據的過程能力分析
附錄
參考文獻
鄂公網安備 42010302001612號 