高速數(shù)字接口原理與測試指南

上部 高速數(shù)字信號測量原理
第1章 無處不在的數(shù)字接口
第2章 數(shù)字信號基礎(chǔ)
2.1 什么是數(shù)字信號(Digital Signal)
2.2 數(shù)字信號的上升時間(Rising Time)
2.3 數(shù)字信號的帶寬(Bandwidth)
2.4 數(shù)字信號的建立/保持時間(Setup/Hold Time)
2.5 并行總線與串行總線(Parallel and Serial Bus)
2.6 單端信號與差分信號(Single-ended and Differential Signals)
2.7 數(shù)字信號的時鐘分配(Clock Distribution)
2.8 串行總線的8b/10b編碼(8b/10b Encoding)
2.9 偽隨機(jī)碼型(PRBS)
2.10 傳輸線對數(shù)字信號的影響(Transmission Line Effects)
2.11 數(shù)字信號的預(yù)加重(Pre-emphasis)
2.12 數(shù)字信號的均衡(Equalization)
2.13 數(shù)字信號的抖動(Jitter)
2.14 擴(kuò)頻時鐘(SSC)
第3章 數(shù)字測試基礎(chǔ)
3.1 數(shù)字信號的波形分析(Waveform Analysis)
3.2 數(shù)字信號的眼圖分析(Eye Diagram Analysis)
3.3 眼圖的參數(shù)測量(Eye Diagram Measurement)
3.4 眼圖的模板測試(Mask Test)
3.5 數(shù)字信號抖動的成因(Root Cause of Jitter)
3.6 數(shù)字信號的抖動分解(Jitter Seperation)
3.7 串行數(shù)據(jù)的時鐘恢復(fù)(Clock Recovery)
3.8 示波器的抖動測量能力(Jitter Measurement Floor of Scope)
3.9 相位噪聲測量(Phase Noise Measurement)
3.10 傳輸線的特征阻抗(Characteristic Impedance)
3.11 特征阻抗的TDR測試(Time Domain Reflectometer)
3.12 傳輸線的建模分析(Transmission Line Modelling)
第4章 實時示波器原理
4.1 模擬示波器(Analog Oscilloscope)
4.2 數(shù)字存儲示波器(Digital Storage Oscilloscope)
4.3 示波器的帶寬(Bandwidth)
4.4 示波器的頻響方式(Frequency Response)
4.5 示波器帶寬對測量的影響(Bandwidth Impact)
4.6 示波器的帶寬增強(qiáng)技術(shù)(Bandwidth Enhancement Technology)
4.7 示波器的頻帶交織技術(shù)(Bandwidth Interleaving Technology)
4.8 示波器的采樣技術(shù)(Sampling Technology)
4.9 示波器的分辨率(Vertical Resolution)
4.10 示波器的直流電壓測量精度(DC Voltage Accuracy)
4.11 示波器的時間測量精度(Delta-Time Accuracy)
4.12 示波器的等效位數(shù)(ENOB)
4.13 示波器的高分辨率模式(High Resolution)
4.14 示波器的內(nèi)存深度(Memory Depth)
4.15 示波器的死區(qū)時間(Dead Time)
4.16 示波器的顯示模式(Display Mode)
4.17 示波器的觸發(fā)(Trigger)
4.18 示波器的觸發(fā)條件(Trigger Conditions)
4.19 示波器的觸發(fā)模式(Trigger Mode)
4.20 示波器的測量速度(Measurement update rate)
附錄 Agilent 公司90000X系列高端示波器原理
第5章 示波器探頭原理
5.1 高阻無源探頭(High Impedance Passive Probe)
5.2 無源探頭的常用附件(Passive Probe Accessories)
5.3 低阻無源探頭(Low Impedance Passive Probe)
5.4 有源探頭(Active Probe)
5.5 差分探頭(Differential Probe)
5.6 電流探頭(Current Probe)
5.7 高靈敏度探頭(High-sensitivity Probe)
5.8 探頭連接前端對測量的影響(Probe Head)
5.9 探頭衰減比對測量的影響(Probe Attenuation Ratio)
5.10 探頭的校準(zhǔn)方法(Probe Calibration)
第6章其他常用數(shù)字測量儀器6.1采樣示波器(Sampling Oscilloscope)6.2矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與TDR(VNA and TDR)6.3邏輯分析儀(Logic Analyzer)6.4協(xié)議分析儀(Protocol Analyzer)6.5誤碼分析儀(Bit Error Ratio Tester)附錄1Agilent公司U4154A邏輯分析儀簡介附錄2示波器協(xié)議解碼功能和協(xié)議分析儀的區(qū)別第7章常用測量技巧7.1電源紋波噪聲測試方法7.2時間間隔測量7.3如何用示波器進(jìn)行ps級時間精度的測量7.4怎樣測量PLL電路的鎖定時間7.5T型頭和功分器的區(qū)別7.6如何克服測試電纜對高頻測量的影響第8章用多臺儀器搭建自動測試系統(tǒng)8.1自動化測試系統(tǒng)8.2LXI測試系統(tǒng)的硬件平臺8.3LXI測試系統(tǒng)的軟件架構(gòu)8.4LXI測試系統(tǒng)的優(yōu)點8.5LXI測試系統(tǒng)的兼容性問題8.6LXI測試系統(tǒng)的時鐘同步8.7LXI測試系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)安全性下部高速數(shù)字接口及測試方法第9章PCIE簡介及信號和協(xié)議測試方法
9.1PCIE總線簡介9.2PCIE 協(xié)會簡介9.3PCIE信號質(zhì)量測試9.4PCIE協(xié)議調(diào)試和測試9.5PCIE測試總結(jié)和常見問題第10章PCIE 3.0簡介及信號和協(xié)議測試方法第11章SATA簡介及信號和協(xié)議測試方法
第12章Ethernet簡介及信號測試方法
第13章MIPI DPHY簡介及信號和協(xié)議測試方法
第14章MIPI MPHY簡介及信號和協(xié)議測試方法
第15章存儲器簡介及信號和協(xié)議測試
第16章USB 2.0簡介及信號和協(xié)議測試
第17章USB 3.0簡介及信號和協(xié)議測試
第18章HDMI 簡介及信號和協(xié)議測試
第19章MHL簡介及信號和協(xié)議測試
第20章DisplayPort簡介及信號測試
第21章LVDS傳輸系統(tǒng)簡介及測試
第22章MILSTD1553B簡介及測試