自動測試概論

第1章 緒論
1．1 自動測試的基本概念
1．1．1 自動測試的定義
1．1．2 自動測試的特點
1．1．3 幾個有關概念
1．2 自動測試的發(fā)展歷程
1．2．1 專用自動測試系統(tǒng)
1．2．2 基于GPIB總線的積木式自動測試系統(tǒng)
1．2．3 基于VxI總線的模塊化自動測試系統(tǒng)
1．2．4 基于LxI總線的網(wǎng)絡化自動測試系統(tǒng)
1．3 自動測試系統(tǒng)的組成
1．3．1 結構組成
1．3．2 元素組成
1．4 自動測試系統(tǒng)的評價指標
1．4．1 測試對象
1．4．2 主要功能
1．4．3 工作方式
1．4．4 適應環(huán)境
1．4．5 故障檢測率
1．4．6 故障隔離率
1．4．7 虛警率
1．4．8 故障檢測時間
1．4．9 故障隔離時問
1．4．10 連續(xù)工作時間
1．4．11 可靠性
1．4．12 維修性
1．4．13 測試性
1．4．14 安全性
1．4．15 保障性
1．4．16 電磁兼容性
1．4．17 可擴展性
參考文獻
第2章 基于單片機的自動測試系統(tǒng)
2．1 基本硬件組成
2．1．1 單片機及單片機最小系統(tǒng)
2．1．2 多路開關
2．1．3 A／D轉換器
2．1．4 D／A轉換器
2．1．5 鍵盤
2．1．6 傳感器
2．1．7 加載電源
2．2 信號調理、數(shù)據(jù)采集與輸入顯示
2．2．1 信號調理
2．2．2 數(shù)據(jù)采集
2．2．3 輸入與顯示
2．3 基于單片機的自動測試的實現(xiàn)
2．3．1 基于單片機的自動測試系統(tǒng)的需求分析
2．3．2 基于單片機的自動測試系統(tǒng)的硬件實現(xiàn)
2．3．3 基于單片機的自動測試系統(tǒng)的軟件實現(xiàn)
參考文獻
第3章 測試性設計技術
3．1 測試性的定義
3．1．1 測試性要素
3．1．2 測試性指標
3．2 測試性的研究及發(fā)展
3．2．1 國外研究發(fā)展情況
第4章 合成儀器技術
第5章 并行測試技術
第6章 LXI總線技術
第7章 全壽命測試信息框架
第8章 預測與健康管理技術
第9章 便攜式維修輔助技術
第10章 下一代自動測試系統(tǒng)