X射線(xiàn)衍射分析原理與應(yīng)用

定　價(jià)：￥25.00

作　者：	劉粵惠，劉平安編著
出版社：	化學(xué)工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787502548308	出版時(shí)間：	2003-10-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	21cm	頁(yè)數(shù)：	258	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)在對(duì)X射線(xiàn)衍射分析原理簡(jiǎn)單介紹基礎(chǔ)上，選出了許多有代表性的應(yīng)用實(shí)例，重點(diǎn)介紹X射線(xiàn)分析法在新型材料研究方面的應(yīng)用。全書(shū)共10章。第1章為概述。第2-第5章為X射線(xiàn)衍射分析法基礎(chǔ)理論部分。第6、第7章為X線(xiàn)衍射物相定性和定量分析方法。第8章為衍射系統(tǒng)的消光概念及應(yīng)用。第9章為應(yīng)用實(shí)例。第10章為Rietveld方法簡(jiǎn)介。本書(shū)可作為高等學(xué)?；?、材料類(lèi)專(zhuān)業(yè)有關(guān)“測(cè)試方法”、“材料結(jié)構(gòu)”課程本科生、研究生的教材，也可作為相關(guān)科研工作者及廠礦技術(shù)人員的參考書(shū)。

作者簡(jiǎn)介

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圖書(shū)目錄

第1章
概述
1．1
材料分析表征方法簡(jiǎn)述
1．2
X射線(xiàn)衍射分析技術(shù)的發(fā)展及現(xiàn)狀
1．3
X射線(xiàn)應(yīng)用技術(shù)簡(jiǎn)介第2章
X射線(xiàn)的產(chǎn)生及性質(zhì)
2．1
X射線(xiàn)的性質(zhì)
2．2
X射線(xiàn)的產(chǎn)生
2．3
X射線(xiàn)譜
2．4
X射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用第3章
X射線(xiàn)衍射原理
3．1
晶體學(xué)基礎(chǔ)
3．2
X射線(xiàn)衍射原理
3．3
X射線(xiàn)衍射方程
第4章
X射線(xiàn)衍射方法
4．1
粉晶體射儀法
4．2
其他X射線(xiàn)衍射儀第5章
X射線(xiàn)衍射數(shù)據(jù)
5．1
衍射方向
5．2
衍射強(qiáng)度
5．3
衍射數(shù)據(jù)的確定和表示
5．4
衍射線(xiàn)分離第6章
X射線(xiàn)物相定性分析
6．1
概念與原理
6．2
標(biāo)準(zhǔn)衍射數(shù)據(jù)資料簡(jiǎn)介
6．3
物相分析方法及步驟第7章
X射線(xiàn)物相定量分析
7．1
物相定量分析原理
7．2
物相定量分析方法
第8章
衍射系統(tǒng)消光概念及應(yīng)用
8．1
衍射系統(tǒng)的光規(guī)律
8．2
消光規(guī)律應(yīng)用
第9章
X射線(xiàn)衍射分析方法的應(yīng)用
9．1
X射線(xiàn)物相鑒定
9．2
物相定量分析
9．3
粉末晶體結(jié)構(gòu)分析
9．4
晶粒度及晶格應(yīng)變的測(cè)定第10章
X射線(xiàn)衍射結(jié)構(gòu)分析的新方法——Rietveld法
10．1
Rietveld方法的基本原理
10．2
Rietveld分析的實(shí)驗(yàn)方案
10．3
Rietveld方法的應(yīng)用