專利侵權(quán)判定：中美法條與案例比較研究

定　價：￥35.00

作　者：	程永順，羅李華著
出版社：	專利文獻(xiàn)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	民法

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ISBN：	9787800113079	出版時間：	2002-11-01	包裝：	精裝本
開本：	20cm	頁數(shù)：	390	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《專利侵權(quán)判定》一書的作者在這方面作了有益的探索，他們敢于以專利侵權(quán)判定這個司法保護(hù)中的難題為研究對象，在比較、分析、研究中美兩國專利法條和大量司法判例的基礎(chǔ)上提出自己的觀點、看法，這種務(wù)實的研究精神是值得肯定、值得提倡的。書中的一些觀點對我國專利法的修改和專利司法實踐將起到推動作用。程永順1982年1月畢業(yè)于北京師范大學(xué)經(jīng)濟(jì)系。1992年至1993年在北京大學(xué)中國高級法官培訓(xùn)中心進(jìn)修經(jīng)濟(jì)法專業(yè)?，F(xiàn)任北京市高級人民法院知識產(chǎn)權(quán)審判庭副庭長，中國人民大學(xué)法學(xué)院兼職副教授，國家法官學(xué)院兼職教授，中國知識產(chǎn)權(quán)研究會常務(wù)理事，中國科學(xué)技術(shù)法學(xué)會常務(wù)理事，中華商？暄Щ嶗硎?。主要著作有《专利诉讼≠Eⅰ豆ひ擋訓(xùn)閎鵲閶芯俊貳ⅰ噸恫ㄇ秩ㄋ咚稀罰ê現(xiàn)┑??？羅李華1987年畢業(yè)于北京大學(xué)生物系并獲得法律系經(jīng)濟(jì)法第二學(xué)位，同年赴美國深造，其后獲得佛羅里達(dá)大學(xué)法學(xué)博士學(xué)位和喬治·華盛頓大學(xué)法學(xué)院知識產(chǎn)權(quán)碩士學(xué)位?，F(xiàn)任美國通用電氣公司律師，負(fù)責(zé)亞太地區(qū)知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)。本書由中國知識產(chǎn)權(quán)法官和美國知識產(chǎn)權(quán)律師合作撰寫，通過對中美兩國近百個專利侵權(quán)訴訟案例的詳盡分析，比較了兩國判定專利侵權(quán)各項原則的異同，提出了作者的獨到見解。本書對我國專利侵權(quán)訴訟的判案人員和涉案雙方，均具重要的參考價值；對發(fā)展和完善我國的專利司法制度，將起有益的推動作用。

作者簡介

　　作者簡介程永順1982年1月畢業(yè)于北京師范大學(xué)經(jīng)濟(jì)系。1992年至1993年在北京大學(xué)中國高級法官培訓(xùn)中心進(jìn)修經(jīng)濟(jì)法專業(yè)?，F(xiàn)任北京市高級人民法院知識產(chǎn)權(quán)審判庭副庭長，中國人民大學(xué)法學(xué)院兼職副教授，國家法官學(xué)院兼職教授，中國知識產(chǎn)權(quán)研究會常務(wù)理事，中國科學(xué)技術(shù)法學(xué)會常務(wù)理事，中華商標(biāo)學(xué)會理事。主要著作有《專利訴訟》、《工業(yè)產(chǎn)權(quán)難點熱點研究》、《知識產(chǎn)權(quán)侵權(quán)訴訟》（合著）等。羅李華1987年畢業(yè)于北京大學(xué)生物系并獲得法律系經(jīng)濟(jì)法第二學(xué)位，同年赴美國深造，其后獲得佛羅里達(dá)大學(xué)法學(xué)博士學(xué)位和喬治·華盛頓大學(xué)法學(xué)院知識產(chǎn)權(quán)碩士學(xué)位。現(xiàn)任美國通用電氣公司律師，負(fù)責(zé)亞太地區(qū)知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)。

圖書目錄

     目錄
   概述
   第一部分解釋權(quán)利要求
    第一章權(quán)利要求的作用
    第二章權(quán)利要求的撰寫
    第三章解釋權(quán)利要求的規(guī)則
    第一節(jié) 一般解釋原則
    第二節(jié) 外來技術(shù)特征原則
    第三節(jié) 差別權(quán)利要求原則
    第四節(jié) 對申請人自造詞的解釋原則
    第四章誰來解釋權(quán)利要求
   第二部分專利侵權(quán)行為
    第一章直接侵權(quán)
    第一節(jié) 制造
    第二節(jié) 使用
    第三節(jié) 銷售
    第四節(jié) 進(jìn)口
    第五節(jié) 個人侵權(quán)責(zé)任
    第二章間接侵權(quán)
    第一節(jié) 間接侵權(quán)成立的前提條件
    第二節(jié) 間接侵權(quán)的表現(xiàn)形式
    第三節(jié) 技術(shù)轉(zhuǎn)讓與間接侵權(quán)
    第四節(jié) 間接侵權(quán)與政府行為
   第三部分判定專利侵權(quán)
    第一章判定侵權(quán)的比較對象
    第二章特征分析法
    第三章基本專利和從屬專利
    第四章等同原則
    第一節(jié) 適用等同原則的前提條件
    第二節(jié) 等同的標(biāo)準(zhǔn)
    第三節(jié) 中美兩國運用等同原則的實踐
    第四節(jié) 等同原則在其它國家的實踐
    第五節(jié) 等同的范圍
    第六節(jié) 等同的時間
    第七節(jié) 獲得專利并不意味著不等同
    第八節(jié) 改劣發(fā)明
    第九節(jié) 相反等同原則
    第五章禁止反悔原則
    第一節(jié) 專利法中禁止反悔原則的特點
    第二節(jié) 禁止反悔原則在中美司法實踐的運用
    第三節(jié) 禁止反悔的范圍
    第六章現(xiàn)有技術(shù)和等同原則
    第七章多余指定原則
    第一節(jié) 被控侵權(quán)物缺少非必要技術(shù)特征
    第二節(jié) 被控侵權(quán)物缺少非專利技術(shù)特征
   第四部分侵權(quán)抗辯
    第一章專利無效
    第二章侵權(quán)例外
    第一節(jié) 專利權(quán)用盡原則
    第二節(jié) 非故意行為
    第三節(jié) 先用權(quán)原則
    第四節(jié) 臨時過境
    第五節(jié) 實驗性的使用
    第六節(jié) 個人非營利的使用
    第三章訴訟時效或者懈怠
    第四章濫用專利
    第五章專利申請過程中的欺騙行為
    第六章自由公知技術(shù)
   第五部分外觀設(shè)計的侵權(quán)判定
    第一章外觀設(shè)計專利的保護(hù)范圍
    第二章外觀設(shè)計侵權(quán)判定的標(biāo)準(zhǔn)
    第一節(jié) 關(guān)于相同產(chǎn)品的分類
    第二節(jié) 判定相同相近似的尺度
    第三節(jié) 功能性部分不能作為判定侵權(quán)的依據(jù)
    第四節(jié) 判定相同相近似的方法
    第五節(jié) 關(guān)于對色彩的保護(hù)
    第三章對不該授權(quán)的外觀設(shè)計怎樣保護(hù)
   參考書目
   后記