幾何量公差與檢測(cè)

定　價(jià)：￥3.45

作　者：	甘永立主編
出版社：	上海科學(xué)技術(shù)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	機(jī)械元件互換性測(cè)量公差標(biāo)準(zhǔn)

ISBN：	9787532312580	出版時(shí)間：	1989-04-01	包裝：
開(kāi)本：	26cm	頁(yè)數(shù)：	248頁(yè)	字?jǐn)?shù)：

　　本書(shū)共分緒論、幾何量測(cè)量基礎(chǔ)、孔軸公差配合與檢測(cè)等十二章。

暫缺《幾何量公差與檢測(cè)》作者簡(jiǎn)介

暫缺《幾何量公差與檢測(cè)》目錄

掃描二維碼