工業(yè)中的核測(cè)量

定　價(jià)：￥20.00

作　者：	（匈）S.羅薩（S.Rozsa）著；紀(jì)裕盈，尚秀蘭譯
出版社：	原子能出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	輻射探測(cè)

ISBN：	9787502213855	出版時(shí)間：	1995-06-01	包裝：	精裝
開本：	26cm	頁數(shù)：	196	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　內(nèi)容簡(jiǎn)介本書是匈牙利科學(xué)院核專家S.Rozsa的一本專著，也是工業(yè)核測(cè)量領(lǐng)域的第一本專著。書中結(jié)合作者幾十年的工作經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合實(shí)際的工業(yè)應(yīng)用成果，集中討論了核測(cè)量技術(shù)在工業(yè)及其有關(guān)領(lǐng)域中的應(yīng)用。核測(cè)量?jī)x器有很高的準(zhǔn)確度和可靠性，能在惡劣的環(huán)境條件下運(yùn)用，并且是非接觸的測(cè)量方式，這些都使它能解決采用其它測(cè)量方法難以解決的問題，因而在世界上工業(yè)發(fā)達(dá)國家中獲得了廣泛的應(yīng)用。在我國，隨著四個(gè)現(xiàn)代化建設(shè)的快速發(fā)展，工業(yè)核測(cè)量技術(shù)也正得到大力的推廣應(yīng)用。本書內(nèi)容共分12章，包括：輻射源和核輻射的基本概念，輻射探測(cè)系統(tǒng)，各種核測(cè)量方法和測(cè)量?jī)x表，極限值指示和料位測(cè)量，厚度測(cè)量（包括鍍層厚度測(cè)量），密度測(cè)量，水分含量測(cè)量，材料成分分析和測(cè)量，核測(cè)量技術(shù)的其它工業(yè)應(yīng)用以及測(cè)量裝置的建立、應(yīng)用的規(guī)劃和輻射防護(hù)等內(nèi)容。為方便國內(nèi)讀者，譯者在本書末尾加了附錄，介紹了國內(nèi)工業(yè)應(yīng)用核儀器的概況。本書適用于工礦企業(yè)采用或打算采用核儀表的技術(shù)人員及技術(shù)工人，研制核儀表和研究核技術(shù)應(yīng)用的科技人員以及中專、大專院校有關(guān)專業(yè)的師生。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《工業(yè)中的核測(cè)量》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

     目錄
   前言
   1 基本概念
    1.1 同位素和放射性
    1.2 放射性的基本定律和單位
    1.3 輻射源
    1.3.1 密封輻射源的特性
    1.3.2 密封性的檢驗(yàn)和判據(jù)
    1.3.3 輻射源的使用和商品化
    1.4 輻射與物質(zhì)的相互作用
    1.4.1 α輻射
    1.4.2 β輻射
    1.4.3 Υ輻射
    1.4.4 中子輻射
   2 輻射探測(cè)系統(tǒng)
    2.1 電離室
    2.2 正比計(jì)數(shù)管
    2.3 G－M計(jì)數(shù)管
    2.4 半導(dǎo)體探測(cè)器
    2.5 閃爍計(jì)數(shù)器
    2.5.1 閃爍體
    2.5.2 光電倍增管
    2.5.3 工作穩(wěn)定性
    2.5.4 閃爍能譜測(cè)量
    2.5.5 帶半導(dǎo)體光敏器件的閃爍探測(cè)器
    2.6 工業(yè)核儀表中的探測(cè)器
   3 測(cè)量方法和測(cè)量?jī)x表
    3.1 同位素測(cè)量方法
    3.1.1 直接測(cè)量
    3.1.2 差分測(cè)量
    3.1.3 補(bǔ)償測(cè)量
    3.1.4 自動(dòng)校準(zhǔn)
    3.2 統(tǒng)計(jì)測(cè)量誤差
    3.3 放射性同位素測(cè)量?jī)x表
    3.3.1 用于信號(hào)處理的電子學(xué)系統(tǒng)
    3.3.2 通用測(cè)量系統(tǒng)
    3.3.3 智能測(cè)量?jī)x表
    3.3.4 多道測(cè)量裝置
    3.4 控制系統(tǒng)
   4 極限值指示
    4.1 放射性同位素的極限值指示（Υ繼電器）
    4.2 適用于解決極限值指示問題的幾種放射性同位素裝置
    4.3 料位指示器Υ繼電器的應(yīng)用
    4.4 料位指示器在自動(dòng)控制中的應(yīng)用
   5 料位測(cè)量
    5.1 吸收式料位測(cè)量?jī)x表
    5.2 跟蹤式料位測(cè)量?jī)x表
    5.3 Υ定位剖面測(cè)量
    5.4 利用放射性同位素探測(cè)進(jìn)行料位控制
    5.5 料位測(cè)量和工藝監(jiān)督
   6 厚度測(cè)量
    6.1 利用放射性同位素進(jìn)行厚度測(cè)量
    6.2 放射性同位素厚度測(cè)量裝置
    6.3 厚度測(cè)量裝置的應(yīng)用
    6.4 厚度（表面質(zhì)量）控制
    6.5 利用厚度測(cè)量?jī)x表進(jìn)行工藝監(jiān)督
   7 鍍層厚度測(cè)量
    7.1 基于β輻射反射技術(shù)的鍍層厚度測(cè)量
    7.2 基于β輻射反射技術(shù)的鍍層厚度測(cè)量裝置
    7.3 利用β輻射反射原理進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量的應(yīng)用
    7.3.1 錫鍍層厚度的測(cè)定
    7.3.2 鋅鍍層厚度的測(cè)量
    7.3.3 銀鍍層厚度的測(cè)量
    7.3.4 金鍍層厚度的測(cè)量
    7.3.5 雙鍍層厚度的測(cè)量
    7.3.6 塑料和涂料涂層厚度的測(cè)量
    7.3.7 其它涂層厚度的測(cè)量
    7.3.8 鏜孔電鍍層厚度的測(cè)量
    7.4 利用X射線熒光測(cè)量層厚
   8 密度測(cè)量
    8.1 利用Υ輻射吸收法進(jìn)行密度測(cè)量
    8.2 測(cè)量位置的設(shè)計(jì)
    8.2.1 測(cè)量倉的充滿度
    8.2.2 氣泡
    8.2.3 測(cè)量管中的沉積
    8.2.4 測(cè)量管的磨損
    8.2.5 吸收長(zhǎng)度的選定
    8.2.6 校準(zhǔn)可能性的保證
    8.3 密度測(cè)量?jī)x表
    8.4 放射性同位素密度計(jì)的應(yīng)用
   9 水分含量測(cè)量
    9.1 利用中子慢化法測(cè)量水分含量
    9.2 濕度計(jì)的工藝應(yīng)用
    9.2.1 水分含量不變的混合料的生產(chǎn)
    9.2.2 供給特定量水分
    9.2.3 帶質(zhì)量修正的加料
   10 利用核儀表測(cè)定材料成分
    10.1 以輻射吸收原理工作的儀表
    10.1.1 β輻射吸收的應(yīng)用
    10.1.2 Υ輻射吸收的應(yīng)用
    10.2 利用輻射反射（散射）進(jìn)行測(cè)量
    10.2.1 β輻射反射的應(yīng)用
    10.2.2 Υ輻射反射的應(yīng)用
    10.3 次級(jí)輻射的測(cè)量
    10.3.1 由β輻射產(chǎn)生的次級(jí)輻射的測(cè)量
    10.3.2 由Υ輻射產(chǎn)生的次級(jí)輻射的測(cè)量
    10.3.3 熒光輻射的測(cè)量
    10.4 中子輻射的應(yīng)用
    10.4.1 活化分析
    10.4.2 自發(fā)核反應(yīng)的應(yīng)用
    10.4.3 中子吸收和散射的應(yīng)用
    10.5 Υ輻射的選擇相互作用
    10.6 根據(jù)天然放射性測(cè)定材料成分
   11 核方法的其它工業(yè)應(yīng)用
    11.1 輸送帶上的連續(xù)測(cè)量
    11.2 包裹內(nèi)裝物品的檢查
    11.3 利用Υ輻射吸收探測(cè)煙
    11.4 靜電荷的消除
    11.5 可攜式核儀器
    11.5.1 土壤密度和水分含量的測(cè)量
    11.5.2 利用反射技術(shù)進(jìn)行壁厚測(cè)量
    11.5.3 料位測(cè)定計(jì)
   12 工業(yè)用放射性同位素測(cè)量裝置的建立
    12.1 裝置的適當(dāng)選定和數(shù)據(jù)獲取
    12.2 規(guī)劃應(yīng)用
    12.3 現(xiàn)場(chǎng)操作
    12.4 輻射防護(hù)
    12.4.1基本原理
    12.4.2輻射源容器
   參考文獻(xiàn)
   附錄