材料X射線衍射基礎(chǔ)與實(shí)踐

定　價(jià)：￥49.00

作　者：	王利民、吳立明、張宴會(huì) 等編著
出版社：	化學(xué)工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787122438737	出版時(shí)間：	2024-02-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《材料X射線衍射基礎(chǔ)與實(shí)踐》根據(jù)“高等學(xué)校材料類專業(yè)教學(xué)指導(dǎo)委員會(huì)規(guī)劃教材”建設(shè)項(xiàng)目的要求，博采同類教材眾長并結(jié)合編者多年教學(xué)和科研心得，從學(xué)生學(xué)習(xí)角度整合教材內(nèi)容，教材深挖教學(xué)重點(diǎn)、剖析難點(diǎn)，不僅著眼于學(xué)生基礎(chǔ)知識(shí)結(jié)構(gòu)的構(gòu)建，更注重學(xué)生思考能力的培養(yǎng)。本書內(nèi)容的安排如下：第1章緒論，闡述該課程在材料科學(xué)與工程專業(yè)課程體系中的定位，介紹衍射現(xiàn)象和衍射技術(shù)的發(fā)展歷程；第2章講解X射線的基礎(chǔ)物理知識(shí)；第3章為材料晶體結(jié)構(gòu)的描述方法，重點(diǎn)解釋引入倒易空間描述晶體結(jié)構(gòu)的科學(xué)性和意義；第4～6章講解X射線晶體衍射的基本理論，包括衍射方向、衍射強(qiáng)度和衍射線形等，重點(diǎn)內(nèi)容包括勞厄方程、布拉格方程、衍射矢量方程、埃瓦爾德圖解、消光規(guī)律、干涉函數(shù)等；第7章為X射線衍射技術(shù)和方法，介紹獲得衍射圖譜的常見技術(shù)和基本方法；第8、9章介紹X射線衍射技術(shù)的基本應(yīng)用，主要包括材料的物相鑒定與定量分析、點(diǎn)陣常數(shù)測定、結(jié)晶度分析和應(yīng)力分析等。本書是高等學(xué)校材料類專業(yè)的本科和研究生教材，也可供材料研究和工程領(lǐng)域的技術(shù)人員參考。

作者簡介

　　王利民，男，教授、博導(dǎo)，河北玉田人現(xiàn)任燕山大學(xué)副校長 "長江學(xué)者"獎(jiǎng)勵(lì)計(jì)劃特聘教授材料專業(yè)教學(xué)指導(dǎo)委員會(huì)副秘書長從事材料相變尤其是非晶材料研究，先后主持國家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃課題、國家自然科學(xué)基金、重點(diǎn)項(xiàng)目、河北省杰出青年基金等國家或省部級(jí)項(xiàng)目近20項(xiàng)。發(fā)表SCI學(xué)術(shù)論文200多篇。教育經(jīng)歷： [1]. 1998.9- 2001.7 中國科學(xué)院物理研究所 | 凝聚體物理 | 博士研究生 | 博士學(xué)位 [2]. 1995.9- 1998.7 燕山大學(xué) | 材料科學(xué)與工程 | 碩士研究生 | 碩士 [3]. 1991.9- 1995.7 燕山大學(xué) | 材料科學(xué)與工程 | 大學(xué)本科教育 | 學(xué)士工作經(jīng)歷： [1]. 2007.8- 至今燕山大學(xué) | 材料科學(xué)與工程學(xué)院 | 院長 | 教授 | 在崗 [2]. 2001.9- 2007.7 Arizona State University | post-doc 研究領(lǐng)域：非晶態(tài)材料的形成機(jī)理與成分設(shè)計(jì)非晶轉(zhuǎn)變熱力學(xué)與動(dòng)力學(xué)

圖書目錄

第1章緒論
1.1X射線的發(fā)現(xiàn)與應(yīng)用領(lǐng)域 1
1.2X射線衍射學(xué)發(fā)展歷程 3
1.3衍射基本概念 5
1.4教材特點(diǎn)與內(nèi)容安排 7
習(xí)題與思考題 7
第2章X射線的物理學(xué)基礎(chǔ)
2.1X射線的產(chǎn)生 9
2.1.1X射線管 9
2.1.2同步輻射 11
2.2X射線的性質(zhì) 12
2.2.1X射線的物理本質(zhì) 12
2.2.2X射線分類 13
2.3X射線譜 13
2.3.1連續(xù)X射線譜 13
2.3.2特征X射線譜 14
2.4莫塞萊定律 17
2.5X射線與物質(zhì)的相互作用 18
2.5.1散射 18
2.5.2吸收 19
2.5.3透過與衰減 21
2.6X射線的安全與防護(hù) 23
習(xí)題與思考題 23
第3章材料晶體結(jié)構(gòu)概述
3.1晶體結(jié)構(gòu)的正空間表達(dá)與分類 25
3.1.1晶體結(jié)構(gòu)與空間點(diǎn)陣 25
3.1.2晶胞與基本矢量 25
3.1.3布拉維晶胞 26
3.2晶面的標(biāo)定與屬性 29
3.2.1晶面指數(shù) 29
3.2.2晶面間距 30
3.2.3晶面族 31
3.2.4六方晶系的晶面指數(shù) 31
3.3晶向和晶帶 32
3.3.1晶向和晶向指數(shù) 32
3.3.2晶向族 32
3.3.3晶帶和晶帶軸 33
3.4晶體結(jié)構(gòu)的倒空間表述 33
3.4.1引入倒易變換和倒易點(diǎn)陣的必要性 33
3.4.2倒易點(diǎn)陣和倒空間 34
3.4.3倒易點(diǎn)陣與正點(diǎn)陣的變換 35
3.4.4倒易矢量及其性質(zhì) 36
3.4.5倒易變換本質(zhì)與數(shù)學(xué)表達(dá) 38
3.4.6倒易變換的科學(xué)意義 39
3.5非晶態(tài)材料結(jié)構(gòu) 41
習(xí)題與思考題 44
第4章X射線衍射方向
4.1衍射譜的基本要素 45
4.1.1晶體X射線衍射的產(chǎn)生 45
4.1.2衍射圖像的基本要素 45
4.2衍射方向的勞厄方程 47
4.2.1勞厄方程推導(dǎo) 47
4.2.2三維勞厄衍射方程的討論 49
4.3衍射方向的布拉格方程 52
4.3.1布拉格方程推導(dǎo) 52
4.3.2布拉格方程的討論 54
4.3.3勞厄方程和布拉格方程的比較 58
4.4衍射矢量方程 58
4.4.1衍射矢量方程推導(dǎo) 59
4.4.2衍射矢量方程的討論 60
4.4.3埃瓦爾德圖解 62
4.5埃瓦爾德圖解應(yīng)用：基于衍射原理的三種衍射方法 64
習(xí)題與思考題 68
第5章X射線衍射強(qiáng)度
5.1一個(gè)電子對X射線的散射 70
5.2一個(gè)原子對X射線的散射 71
5.2.1原子散射因子 71
5.2.2原子散射因子的討論 72
5.3一個(gè)晶胞對X射線的散射 73
5.3.1簡單點(diǎn)陣和帶心點(diǎn)陣的散射 74
5.3.2帶心點(diǎn)陣消光規(guī)律的定性分析 74
5.3.3帶心點(diǎn)陣消光規(guī)律的定量分析：結(jié)構(gòu)因子 76
5.3.4衍射譜指標(biāo)化 85
5.4一個(gè)晶粒的X射線衍射強(qiáng)度 86
5.5粉末多晶的X射線衍射積分強(qiáng)度 87
5.5.1參與衍射的晶粒數(shù)目 87
5.5.2參與衍射的衍射面數(shù)目——多重性因子PHKL 89
5.5.3單位弧長上的積分強(qiáng)度 90
5.5.4角因子φ(θ) 90
5.5.5吸收因子A(θ) 91
5.5.6溫度因子e-2M 91
5.5.7粉末多晶衍射積分強(qiáng)度 92
習(xí)題與思考題 93
第6章X射線衍射線形
6.1衍射峰的寬化 94
6.2晶粒細(xì)化引起的衍射峰寬化 95
6.2.1一個(gè)晶粒的衍射強(qiáng)度理論：干涉函數(shù) 95
6.2.2干涉函數(shù)的討論 96
6.2.3衍射峰寬化的分析解釋：德拜-謝樂方程 102
6.3晶格畸變導(dǎo)致的衍射峰寬化 105
6.4非晶態(tài)材料的衍射譜和干涉函數(shù) 107
習(xí)題與思考題 110
第7章材料衍射分析的實(shí)驗(yàn)方法
7.1衍射方法與衍射儀器分類 111
7.1.1按衍射原理分類 112
7.1.2按信號(hào)記錄方式與接收系統(tǒng)分類 114
7.2衍射幾何 115
7.2.1Debye-Scherrer 衍射幾何 115
7.2.2Bragg-Brentano衍射幾何 115
7.2.3Seemann-Bohlin衍射幾何 117
7.3粉末X射線衍射儀 118
7.3.1X射線發(fā)生器 119
7.3.2測角儀 119
7.3.3晶體單色器 120
7.3.4信號(hào)接收器 121
7.4粉末衍射測量的基本參量與要求 121
7.5單晶X射線衍射儀 122
習(xí)題與思考題 122
第8章物相分析與點(diǎn)陣常數(shù)的精確測定
8.1物相定性分析 124
8.1.1基本原理和方法 124
8.1.2PDF卡片與分析軟件 125
8.1.3基于單晶結(jié)構(gòu)構(gòu)建粉末衍射 127
8.2物相定量分析 129
8.2.1基本原理 129
8.2.2常用方法 130
8.2.3非晶材料結(jié)晶度測量 134
8.3點(diǎn)陣常數(shù)的精確測定 136
8.3.1基本原理 136
8.3.2誤差產(chǎn)生原因和消除誤差的方法 137
8.3.3輻射源對晶胞常數(shù)測定的影響 140
8.3.4Kα1和Kα2衍射線條的分辨 140
8.3.5點(diǎn)陣常數(shù)精確測定的應(yīng)用 141
習(xí)題與思考題 143
第9章X射線衍射應(yīng)力分析
9.1應(yīng)力產(chǎn)生與分類 145
9.2應(yīng)力測定的方法和基本原理 146
9.3三類應(yīng)力與X射線衍射譜 146
9.4X射線衍射單軸應(yīng)力測定 149
9.5X射線衍射平面應(yīng)力測定 151
9.5.1基本原理 152
9.5.2sin2ψ法 153
習(xí)題與思考題 155
附錄
附錄A勞厄方程與布拉格方程的等效性 157
附錄B衍射矢量方程與勞厄方程等效性 159
附錄C衍射矢量方程與布拉格方程等效性 160
參考文獻(xiàn)