面向神經(jīng)網(wǎng)絡的模擬型阻變存儲器的可靠性研究

定　價：￥79.00

作　者：	趙美然
出版社：	清華大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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當當網(wǎng) (￥75.10)

ISBN：	9787302658306	出版時間：	2024-05-01	包裝：	精裝
開本：	16開	頁數(shù)：		字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　神經(jīng)網(wǎng)絡計算引發(fā)了新一輪信息技術革命，也對硬件的性能提出了更高的需求。基于模擬型阻變存儲器的存算一體系統(tǒng)可以有效緩解存儲墻問題，阻變存儲器的可靠性退化問題是影響存算一體系統(tǒng)準確率的關鍵因素，當前尚缺乏面向神經(jīng)網(wǎng)絡應用的可靠性研究。本書從神經(jīng)網(wǎng)絡計算的應用需求出發(fā)，建立了從器件到系統(tǒng)的跨層次可靠性分析與評估框架；圍繞模擬型阻變存儲器的數(shù)據(jù)保持特性建立了適用于多阻態(tài)、多溫度和多陣列形態(tài)的陣列級保持特性退化模型；針對現(xiàn)有的循環(huán)耐久性表征方法難以模擬在線訓練時權重更新的問題提出了小步長增量阻變方法，并通過階段式采樣模擬阻變曲線證明了循環(huán)耐久性的耦合效應是導致在線訓練準確率損失的直接原因。本書可供從事神經(jīng)網(wǎng)絡計算、阻變存儲器、可靠性研究的高校師生、科研院所研究人員及相關技術人員閱讀參考。

作者簡介

　　趙美然，2013年9月考入西安交通大學電子與信息學院微電子科學與工程專業(yè)，2017年7月本科畢業(yè)并獲得工學學士學位。同年9月進入清華大學集成電路學院學習，師從高濱副教授，2022年6月畢業(yè)取得博士學位。博士期間共發(fā)表17篇SCI/EI論文和四項專利，其中以學生第一作者共發(fā)表了7篇論文，包括一篇“ESI高被引論文” 和兩篇行業(yè)頂會IEDM，其個人谷歌被引次數(shù)超過300。博士期間曾獲得2020年中國電子學會集成電路特等獎學金、國家獎學金等榮譽，博士畢業(yè)論文當選2022年清華大學優(yōu)秀博士論文。

圖書目錄

第1章引言
1.1神經(jīng)網(wǎng)絡硬件概述
1.2阻變存儲器件與存算一體技術
1.2.1阻變存儲器概述
1.2.2模擬型阻變存儲器概述
1.2.3基于阻變存儲器的存算一體原理
1.3面向神經(jīng)網(wǎng)絡的阻變存儲器可靠性研究現(xiàn)狀及挑戰(zhàn)
1.3.1可靠性研究現(xiàn)狀
1.3.2面臨的關鍵問題與挑戰(zhàn)
1.4本書內(nèi)容安排
第2章面向神經(jīng)網(wǎng)絡的模擬型阻變存儲器可靠性評估方法
2.1可靠性評估框架
2.2可靠性評估參數(shù)與需求
2.3可靠性表征方法
2.3.1模擬型阻變器件單元與陣列
2.3.2測試系統(tǒng)
2.3.3測試方法
2.4可靠性模擬方法
2.5可靠性影響的量化方法
2.6本章小結
第3章面向神經(jīng)網(wǎng)絡的數(shù)據(jù)保持特性研究
3.1數(shù)據(jù)保持特性行為分析與建模
3.1.1多阻態(tài)的數(shù)據(jù)保持特性分析與建模
3.1.2多溫度的數(shù)據(jù)保持特性分析與建模
3.1.3差分陣列的數(shù)據(jù)保持特性分析與建模
3.2數(shù)據(jù)保持特性的物理機理研究
3.3數(shù)據(jù)保持特性對神經(jīng)網(wǎng)絡準確率的影響
3.3.1面向雙層感知機的數(shù)據(jù)保持退化影響評估
3.3.2面向RESNET-20的數(shù)據(jù)保持退化影響評估
3.4本章小結
第4章面向神經(jīng)網(wǎng)絡的循環(huán)耐久性研究
4.1循環(huán)耐久性行為分析與建模
4.1.1耐擦寫次數(shù)與動態(tài)范圍的關系
4.1.2循環(huán)耐久性退化對非線性的影響
4.1.3循環(huán)耐久性退化對開關比的影響
4.2循環(huán)耐久性的物理機理研究
4.3循環(huán)耐久性對神經(jīng)網(wǎng)絡準確率的影響
4.4本章小結
第5章總結與展望
5.1全書工作總結
5.2本書工作主要創(chuàng)新點
5.3下一步研究工作的展望
參考文獻
在學期間完成的相關學術成果
致謝