抗多位翻轉(zhuǎn)低冗余存儲器加固設計及分析技術(shù)研究

定　價：￥48.00

作　者：	孟祥斌，祝名
出版社：	哈爾濱工業(yè)大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787560345246	出版時間：	2022-04-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	132	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書主要研究了采用錯誤修正碼（Error Correction Code，Ecc）加固技術(shù)的存儲器多位翻轉(zhuǎn)可靠性評估模型、低冗余的ECC構(gòu)造優(yōu)化技術(shù)、二維碼修正加同技術(shù)和故障安全Ecc加固技術(shù)，提出了一種新穎的、具有故障安全能力的混合碼。書中設計的抗多位翻轉(zhuǎn)故障安全存儲器系統(tǒng)與現(xiàn)有的故障安全方案相比，明顯具有少的冗余開銷和譯碼步驟，具備了一定的實用價值。作者利用詳細的數(shù)據(jù)對以上技術(shù)進行r細致的分析與說明，對技術(shù)的使用情況也進行了簡單的介紹。

作者簡介

暫缺《抗多位翻轉(zhuǎn)低冗余存儲器加固設計及分析技術(shù)研究》作者簡介

圖書目錄

第1章緒論
1.1 課題背景及研究意義
1.2 軟錯誤及多位翻轉(zhuǎn)的產(chǎn)生
l.3 抗多位翻轉(zhuǎn)存儲器分析技術(shù)及加固設計研究現(xiàn)狀
1.4 本書主要研究內(nèi)容
1.5 本書結(jié)構(gòu)
第2章存儲器多位翻轉(zhuǎn)的可靠性評估模型
2.1 概述
2.2 輻射環(huán)境的參數(shù)化建模
2.3 存儲器多位翻轉(zhuǎn)可靠性評估模型
2.4 模型驗證與分析
2.5 本章小結(jié)
第3章低冗余的ECC構(gòu)造優(yōu)化技術(shù)
3.1 概述
3.2 構(gòu)造SEC-DED-DAEC碼
3.3 低誤碼率SEC-DED-DAEC碼的構(gòu)造方法
3.4 奇偶校驗矩陣的搜索算法
3.5 電路實現(xiàn)及驗證
3.6 本章小結(jié)
第4章二維修正碼加固技術(shù)
4.1 概述
4.2 低開銷高修正能力的二維修正碼設計
4.3 二維修正碼加固的存儲器系統(tǒng)設計
4.4 修正能力及可靠性分析
4.5 本章小結(jié)
第5章故障安全ECC加固技術(shù)
5.1 概述
5.2 故障安全EcC碼字構(gòu)造
5.3 混合碼的碼字設計
5.4 故障安全存儲器系統(tǒng)設計
5.5 修正能力及可靠性分析
5.6 本章小結(jié)
結(jié)論
參考文獻