公差配合與技術(shù)測(cè)量

定　價(jià)：￥35.00

作　者：	周京
出版社：	西安電子科技大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787560666617	出版時(shí)間：	2023-01-01	包裝：	平裝
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內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)結(jié)合新時(shí)代高職高專(zhuān)院校教育要求和特點(diǎn)，以“必備、夠用”為原則組織內(nèi)容，力求語(yǔ)言簡(jiǎn)練、條理清晰、深入淺出，以任務(wù)引入與思考的方式引導(dǎo)相關(guān)的內(nèi)容學(xué)習(xí)，強(qiáng)化理論性與應(yīng)用性的結(jié)合。本書(shū)共分八個(gè)項(xiàng)目，分別為緒論、測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)、極限與配合基礎(chǔ)、形狀和位置公差、光滑極限量規(guī)設(shè)計(jì)、表面粗糙度及檢測(cè)、螺紋結(jié)合的公差與檢測(cè)、圓錐的公差配合及測(cè)量。本書(shū)適合高職高專(zhuān)院校機(jī)械類(lèi)、機(jī)電類(lèi)及其他相關(guān)專(zhuān)業(yè)使用，也適合制造行業(yè)的工程技術(shù)人員、管理人員、操作人員閱讀參考。