本書在函數(shù)型數(shù)據(jù)的高維情形下,針對樣本均值檢驗問題和函數(shù)線性模型的回歸算子檢驗問題,分別提出了非參數(shù)的檢驗統(tǒng)計量,該統(tǒng)計量避免直接估計協(xié)方差算子,同時不需要通過投影的方法將無窮維的函數(shù)型數(shù)據(jù)轉化為有限維。這些統(tǒng)計量在高維情況都表現(xiàn)較好,尤其是在小樣本或者適中樣本量下,明顯比傳統(tǒng)的檢驗方法要好。不論在原假設還是局部備擇假設下,本書給出了檢驗統(tǒng)計量的漸近正態(tài)分布,并通過數(shù)據(jù)模擬給出檢驗統(tǒng)計量在不同樣本和維數(shù)下的表現(xiàn)。