基于機(jī)器學(xué)習(xí)的磁盤故障預(yù)測(cè)研究

定　價(jià)：￥38.00

作　者：	江天明著
出版社：	武漢大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787307226159	出版時(shí)間：	2022-01-01	包裝：	平裝-膠訂
開本：	16開	頁(yè)數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　隨著互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代的到來(lái)，數(shù)據(jù)規(guī)模的快速增長(zhǎng)給存儲(chǔ)帶來(lái)了巨大挑戰(zhàn)。磁盤憑借其容量大、價(jià)格低等優(yōu)勢(shì)，被廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。然而，磁盤屬干復(fù)雜的機(jī)械電子設(shè)備，維持其高可靠性很具挑戰(zhàn)性。磁盤故障預(yù)測(cè)技術(shù)對(duì)即將發(fā)生的磁盤故障進(jìn)行預(yù)測(cè)，在磁盤故障發(fā)生之前，主動(dòng)地對(duì)這些磁盤中的數(shù)據(jù)進(jìn)行遷移，達(dá)到提高可靠性并降低維護(hù)開銷的目的。但仍存在如下問(wèn)題亟帶解決：（1）由于缺乏故障磁盤樣本，導(dǎo)致基于有監(jiān)督分類模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法存在適應(yīng)性受限的問(wèn)題;（2）僅使用預(yù)測(cè)準(zhǔn)確率衡量預(yù)測(cè)方法的好壞，缺少對(duì)預(yù)測(cè)錯(cuò)誤代價(jià)的評(píng)估：（3）基于扇區(qū)故障預(yù)測(cè)對(duì)存在潛在扇區(qū)故障的磁盤進(jìn)行提升頻率的掃描檢測(cè)，導(dǎo)致維護(hù)開銷增加。本書即針對(duì)這3點(diǎn)問(wèn)題做出分析并提出自己的解決辦法。

作者簡(jiǎn)介

　　江天明，華中師范大學(xué)信息管理學(xué)院講師，主要研究方向是大數(shù)據(jù)分析、機(jī)器學(xué)習(xí)、異常檢測(cè)、推薦系統(tǒng)。在國(guó)內(nèi)外重要核心期刊和學(xué)術(shù)會(huì)議上發(fā)表多篇論文，其中SCI論文2篇，中國(guó)計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)推薦B類會(huì)議論文2篇；獲得發(fā)明專利1項(xiàng)；主持中央高?；究蒲袠I(yè)務(wù)費(fèi)專項(xiàng)資金青年教師項(xiàng)目1項(xiàng)、中國(guó)博士后科學(xué)基金1項(xiàng)。

圖書目錄

第1章緒論
1．1 數(shù)據(jù)中心磁盤故障預(yù)測(cè)的研究背景
1．2 數(shù)據(jù)中心磁盤故障預(yù)測(cè)的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1．3 本書的主要研究?jī)?nèi)容與思路
1．4 本書章節(jié)安排
第2章基于深度生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)的磁盤故障預(yù)測(cè)方法SPA
2．1 SPA的研究背景與動(dòng)機(jī)
2．2 深度生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)相關(guān)研究
2．3 SPA設(shè)計(jì)方案
2．4 實(shí)驗(yàn)評(píng)估
2．5 本章小結(jié)
第3章磁盤故障預(yù)測(cè)中預(yù)測(cè)錯(cuò)誤代價(jià)優(yōu)化方法VCM
3．1 VCM的研究背景與動(dòng)機(jī)
3．2 代價(jià)敏感學(xué)習(xí)簡(jiǎn)介
3．3 VCM設(shè)計(jì)方案
3．4 實(shí)驗(yàn)評(píng)估
3．5 本章小結(jié)
第4章基于磁盤扇區(qū)故障預(yù)測(cè)的自適應(yīng)掃描檢測(cè)方法FAS
4．1 FAS的研究背景及動(dòng)機(jī)
4．2 磁盤掃描檢測(cè)簡(jiǎn)介
4．3 FAS設(shè)計(jì)方案
4．4 FAS理論分析
4．5 實(shí)驗(yàn)評(píng)估
4．6 本章小結(jié)
第5章總結(jié)與展望
5．1 總結(jié)
5．2 展望
致謝
參考文獻(xiàn)
附錄1 攻讀學(xué)位期間發(fā)表論文目錄
附錄2 攻讀博士學(xué)位期間申請(qǐng)的發(fā)明專利和其他成果
附錄3 攻讀博士學(xué)位期間參與的科研項(xiàng)目
附錄4 英文縮略及含義