工業(yè)創(chuàng)新方法與實踐

前　言
理　論　篇
第1章　TRIZ基礎(chǔ) 2
1.1　阿奇舒勒傳奇及TRIZ發(fā)展歷程 2
1.2　基本概念 6
1.2.1　沖突 6
1.2.2　解的級別 7
1.2.3　物-場模型 8
1.2.4　資源 9
1.2.5　系統(tǒng)理想度、理想機器及最終理想解 10
1.3　基本方法 11
1.3.1　沖突消解方法 11
1.3.2　物-場分析方法 16
1.3.3　資源解題方法 16
1.3.4　科學效應解題方法 17
1.3.5　標準解方法 18
1.3.6　進化法則方法 20
1.3.7　思維定式消除方法 24
1.3.8　S曲線方法 27
1.3.9　系統(tǒng)功能建模及裁剪法 30
1.3.10　ARIZ方法 34
參考文獻 35
第2章　價值工程 36
2.1　產(chǎn)生背景 36
2.2　發(fā)展歷程 37
2.3　基本概念 37
2.3.1　價值 38
2.3.2　功能 38
2.3.3　壽命周期成本 39
2.4　基本方法 40
2.4.1　價值工程的工作程序 40
2.4.2　價值工程對象選擇和信息收集 41
2.4.3　功能分析與評價 43
2.4.4　方案創(chuàng)新與評價 44
2.5　應用實例 45
2.5.1　實例背景 45
2.5.2　確定價值工程的分析對象 45
2.5.3　功能分析與功能評價 45
2.5.4　方案創(chuàng)新 47
2.5.5　方案評價 48
參考文獻 49
第3章　質(zhì)量功能展開 50
3.1　產(chǎn)生背景 50
3.2　發(fā)展歷程 51
3.3　基本概念 51
3.3.1　質(zhì)量功能展開的概念 51
3.3.2　質(zhì)量功能展開的基本原理 52
3.3.3　質(zhì)量屋 53
3.4　基本方法 54
3.4.1　赤尾模式 54
3.4.2　四階段模式 54
3.5　應用實例 55
3.5.1　顧客需求 56
3.5.2　產(chǎn)品規(guī)劃 56
3.5.3　零件規(guī)劃 61
3.5.4　工藝規(guī)劃 63
3.5.5　質(zhì)量控制規(guī)劃 66
參考文獻 68
第4章　潛在失效模式及后果分析 69
4.1　產(chǎn)生背景 69
4.2　發(fā)展歷程 69
4.3　基本概念 70
4.3.1　FMEA 70
4.3.2　SFMEA（CFMEA） 71
4.3.3　DFMEA 71
4.3.4　PFMEA 72
4.3.5　失效 72
4.3.6　功能 72
4.3.7　失效模式 73
4.3.8　失效原因 73
4.3.9　失效影響 73
4.3.10　過程確認 73
4.3.11　設(shè)計確認 73
4.3.12　現(xiàn)行控制 73
4.3.13　數(shù)據(jù) 74
4.3.14　可靠性 74
4.3.15　FMEA分析表 74
4.3.16　RPN 76
4.4　基本方法 77
4.4.1　FMEA項目實施步驟 77
4.4.2　FMEA表的實施步驟 80
4.5　應用實例 81
參考文獻 81
第5章　田口方法 88
5.1　產(chǎn)生背景 88
5.2　發(fā)展歷程 89
5.3　基本概念 90
5.3.1　品質(zhì) 90
5.3.2　品質(zhì)特性 90
5.3.3　品質(zhì)損失函數(shù) 90
5.3.4　控制因子 90
5.3.5　信號因子 91
5.3.6　干擾因子 91
5.3.7　S/N 91
5.3.8　直交表 91
5.4　田口方法的實施步驟 92
5.5　應用實例 93
5.5.1　選定品質(zhì)特性 93
5.5.2　判定品質(zhì)特性的理想機能 93
5.5.3　尋找所有影響此品質(zhì)特性的因子 94
5.5.4　定出信號因子的水準 94
5.5.5　定出控制因子的水準 94
5.5.6　定出干擾因子的水準，必要的話，進行干擾實驗 94
5.5.7　選定適當?shù)闹苯槐恚才磐暾膶嶒炗媱?94
5.5.8　執(zhí)行實驗，搜集數(shù)據(jù) 95
5.5.9　資料分析 96
5.5.10　確認實驗 98
參考文獻 98
第6章　公理設(shè)計 99
6.1　產(chǎn)生背景 99
6.2　發(fā)展歷程 100
6.3　基本概念 100
6.3.1　域 100
6.3.2　名詞定義 101
6.3.3　映射與設(shè)計方程 101
6.3.4　設(shè)計公理 102
6.3.5　耦合設(shè)計、冗余設(shè)計和理想設(shè)計 102
6.3.6　推理和定理 103
6.4　基本方法 106
6.4.1　分解、層次和反復迭代 106
6.4.2　第一公理：獨立公理 107
6.4.3　第二公理：信息公理 108
6.5　應用實例 111
參考文獻 115
第7章　六西格瑪設(shè)計 116
7.1　產(chǎn)生背景 116
7.2　發(fā)展歷程 117
7.3　基本概念 118
7.3.1　六西格瑪?shù)慕y(tǒng)計含義 118
7.3.2　六西格瑪?shù)墓芾砗x 119
7.4　基本方法 119
7.4.1　六西格瑪改進模式 120
7.4.2　六西格瑪設(shè)計模式 120
7.4.3　六西格瑪設(shè)計的主要工具 123
7.5　應用實例 126
7.5.1　六西格瑪改進實例 126
7.5.2　六西格瑪設(shè)計實例 127
參考文獻 129
第8章　專利常識 130
8.1　授予專利權(quán)的實質(zhì)條件 130
8.2　專利的申請 130
8.3　專利的優(yōu)先權(quán) 131
8.4　專利權(quán)的期限 131
8.4.1　美國專利 131
8.4.2　日本專利 131
8.4.3　德國專利 131
8.4.4　英國專利 132
8.4.5　法國專利 132
8.4.6　加拿大專利 132
8.4.7　意大利專利 132
8.4.8　歐洲專利 132
8.4.9　韓國專利 132
實　例　篇
第9章　如何提出創(chuàng)新問題 134
9.1　基于公理設(shè)計提出創(chuàng)新問題 134
9.1.1　獨立公理的應用 134
9.1.2　信息公理的應用 135
9.2　基于FMEA提出創(chuàng)新問題 136
9.2.1　風險優(yōu)先數(shù)RPN的應用 136
9.2.2　嚴重度S的應用 138
9.3　基于質(zhì)量功能展開提出創(chuàng)新問題 140
9.4　基于TRIZ提出創(chuàng)新問題 141
9.5　基于價值工程提出創(chuàng)新問題 142
參考文獻 144
第10章　如何建立創(chuàng)新問題模型 145
10.1　如何進行單一功能描述 145
10.2　如何用中性語言描述系統(tǒng) 145
10.3　基于功能模型的裁剪 147
10.4　如何進行創(chuàng)新問題剖析 149
參考文獻 151
第11章　如何解決創(chuàng)新問題 152
11.1　消解沖突解決創(chuàng)新問題 152
11.1.1　消解物理沖突 152
11.1.2　消解技術(shù)沖突 155
11.2　利用資源解決創(chuàng)新問題 160
11.3　利用系統(tǒng)進化模式解決創(chuàng)新問題 161
11.4　利用標準解解決創(chuàng)新問題 165
11.4.1　第一類標準解和第二類標準解 165
11.4.2　第三類標準解：系統(tǒng)傳遞到雙系統(tǒng)、多系統(tǒng)或微觀水平 168
11.4.3　第四類標準解：探測和測量的標準解法 171
11.4.4　第五類標準解：簡化與改善策略標準解 173
11.5　功能導向搜索 175
11.6　利用科學效應解決創(chuàng)新問題 177
11.7　如何解決衍生問題 178
11.8　思維定式去除 179
11.8.1　小智人法 179
11.8.2　九屏法 180
11.8.3　DTC算子 181
11.8.4　金魚法 183
參考文獻 185
第12章　如何評估創(chuàng)新方案 186
12.1　專家評估法 186
12.1.1　單專家評估法 186
12.1.2　多專家評估法 187
12.2　如何確定評估參數(shù) 188
12.3　解的級別 189
12.4　利用FMEA對創(chuàng)新方案進行評估 191
12.5　價值工程方案評價 194
第13章　怎樣設(shè)計新系統(tǒng)和混合系統(tǒng) 196
13.1　怎樣設(shè)計一個新系統(tǒng) 196
13.1.1　基于AD和TRIZ設(shè)計新系統(tǒng) 196
13.1.2　基于TRIZ創(chuàng)新理論的新系統(tǒng)設(shè)計 201
13.1.3　六西格瑪設(shè)計 207
13.2　怎樣設(shè)計一個混合系統(tǒng) 215
13.2.1　基于AD和TRIZ設(shè)計混合系統(tǒng) 215
13.2.2　基于TRIZ設(shè)計混合系統(tǒng) 217
參考文獻 219
第14章　怎樣改進現(xiàn)有產(chǎn)品 220
14.1　如何消除產(chǎn)品缺陷或失效 220
14.1.1　基于TRIZ和FMEA消除產(chǎn)品缺陷 220
14.1.2　基于六西格瑪消除產(chǎn)品缺陷 227
14.1.3　基于TRIZ創(chuàng)新理論和田口方法的產(chǎn)品缺陷消除 230
14.2　如何降低成本：基于TRIZ和VE的產(chǎn)品改進 238
14.3　怎樣改進現(xiàn)有產(chǎn)品 241
參考文獻 243
第15章　如何進行特定目標的產(chǎn)品改進 244
15.1　提出創(chuàng)新問題 244
15.2　建立問題模型 244
15.3　求解創(chuàng)新問題 245
第16章　如何進行專利規(guī)避 247
16.1　確定規(guī)避對象 247
16.2　定義規(guī)避問題 248
16.3　解決規(guī)避問題 251
16.4　評估創(chuàng)新方案 253
參考文獻 253
第17章　如何進行產(chǎn)品的技術(shù)進化趨勢分析 254
17.1　如何建立產(chǎn)品的S曲線 254
17.2　如何判斷產(chǎn)品在S曲線上所處的時期 256
附錄1　沖 突 矩 陣 258
附錄2　40個發(fā)明原理 260
附錄3　76個標準解 265