納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編（第3版）

一、通用標(biāo)準(zhǔn)
GB／T 17507—2008透射電子顯微鏡x射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
GB／T 18735—2014 微束分析 分析電鏡（AEM／EDS）納米薄標(biāo)樣通用規(guī)范
GB／T 18873—2008生物薄試樣的透射電子顯微鏡一X射線能譜定量分析通則
GB／T 19619—2004納米材料術(shù)語(yǔ)
GB／T 20307—2006 納米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
GB／T 22458—2008儀器化納米壓入試驗(yàn)方法通則
GB／T 28044—2011 納米材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法通則
GB／T 28873—2012 納米顆粒生物形貌效應(yīng)的環(huán)境掃描電子顯微鏡檢測(cè)方法通則
GB／T 30544．1—2014納米科技術(shù)語(yǔ)第1部分：核心術(shù)語(yǔ)
GB／T 30544．3—2015納米科技術(shù)語(yǔ)第3部分：碳納米物體
GB／T 30544．5—2014納米科技術(shù)語(yǔ)第5部分：納米／生物界面
GB／T 31228 2014儀器化納米壓人試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)
GB／T 32269—2015 納米科技 納米物體的術(shù)語(yǔ)和定義 納米顆粒、納米纖維和納米片
二、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)
GB／T 19345 2003非晶、納米晶軟磁合金帶材
GB／T 19588 2004納米鎳粉
GB／T 19589—2004納米氧化鋅
GB／T 19590 2011 納米碳酸鈣
GB／T 19591—2004． 納米二氧化鈦
GB／T 21511．1—2008納米磷灰石／聚酰胺復(fù)合材料第1部分：命名
GB／T 21511．2—2008 納米磷灰石／聚酰胺復(fù)合材料 第2部分：技術(shù)要求
GB／T 22925 2009 納米技術(shù)處理服裝
GB／T 24491—2009 多壁碳納米管
GB／T 26824—2011 納米氧化鋁
GB／T 30448—2013 納米鐵粉
GB／T 30449—2013 納米二氧化錫
GB／T 30450—2013 納米硫化鎘
三、檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn)
GB／T 6524—2003 金屬粉末 粒度分布的測(cè)量 重力沉降光透法
GB／T 10722—2014 炭黑 總表面積和外表面積的測(cè)定 氮吸附法
GB 11847—2008二氧化鈾粉末比表面積測(cè)定BET容量法
GB／T 12334—2001 金屬和其他非有機(jī)覆蓋層 關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則
GB／T 13221—2004納米粉末粒度分布的測(cè)定 X射線小角散射法
GB／T 13390 2008 金屬粉末比表面積的測(cè)定 氮吸附法
GB／T 18907—2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
GB／T 19077．1～2008粒度分析 激光衍射法第1部分：通則
GB／T 19346～2003非晶納米晶軟磁合金交流磁性能測(cè)試方法
GB／T 19587—2004 氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積
GB／T 19627—2005粒度分析光子相關(guān)光譜法
GB／T 19921 2005 硅拋光片表面顆粒測(cè)試方法
GB／T 19922—2005 硅片局部平整度非接觸式標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
GB／T 20099—2006樣品制備粉末在液體中的分散方法
GB／T 20170．1—2006 稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法 稀土化合物粒度分布的測(cè)定
GB／T 20170．2—2006 稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法 稀土化合物比表面積的測(cè)定
GB／T 21510—2008納米無(wú)機(jī)材料抗菌性能檢測(cè)方法
GB／T 22462 2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜 元素深度分布的定量測(cè)定 輝光放電原子發(fā)射光譜法
GB／T 23413 2009 納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測(cè)定 x射線衍射線寬化法
GB／T 24369．1—2009金納米棒表征第1部分：紫外／可見(jiàn)／近紅外吸收光譜方法
GB／T 24370～2009 硒化鎘量子點(diǎn)納米晶體表征 紫外一可見(jiàn)吸收光譜方法
GB／T 24490一2009 多壁碳納米管純度的測(cè)量方法
GB／T 25898—2010儀器化納米壓入試驗(yàn)方法 薄膜的壓人硬度和彈性模量
GB／T 26489—2011 納米材料超雙親性能檢測(cè)方法
GB／T 26490一2011 納米材料超雙疏性能檢測(cè)方法
GB／T 26826—2011 碳納米管直徑的測(cè)量方法
GB／T 27760—2011 利用Si（111）晶面原子臺(tái)階對(duì)原子力顯微鏡亞納米高度測(cè)量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法
GB／T 27765—2011 SiO2、TiO2、Fe3O4及Al2O3納米顆粒生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
GB／T 28872—2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動(dòng)輕敲模式 原子力顯微鏡檢測(cè)方法
GB／T 28973—2012 番茄環(huán)斑病毒檢疫鑒定方法 納米顆粒增敏膠體金免疫層析法
GB／T 28974—2012 馬鈴薯A病毒檢疫鑒定方法 納米顆粒增敏膠體金免疫層析法
GB／T 28975—2012 萵苣花葉病毒檢疫鑒定方法 納米顆粒增敏膠體金免疫層析法
GB／T 29189—2012 碳納米管氧化溫度及灰分的熱重分析法
GB／T 29856—2013半導(dǎo)體性單壁碳納米管的近紅外光致發(fā)光光譜表征方法
GB／T 30447—2013 納米薄膜接觸角測(cè)量方法
GB／T 30452—2013光催化納米材料光解指數(shù)測(cè)試方法
GB／T 30543—2014納米技術(shù) 單壁碳納米管的透射電子顯微術(shù)表征方法
GB／T 31229～2014熱重法測(cè)定揮發(fā)速率的試驗(yàn)方法
GB／T 32006—2015金納米棒光熱效應(yīng)的評(píng)價(jià)方法
GB／Z 21738—2008一維納米材料的基本結(jié)構(gòu) 高分辨透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
GB／Z 26082—2010納米材料直流磁化率（磁矩）測(cè)量方法