近現(xiàn)代物理實(shí)驗(yàn)

定　價(jià)：￥36.00

作　者：	韓忠著韓忠編
出版社：	機(jī)械工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	普通高等教育"十二五"規(guī)劃教材
標(biāo)　簽：	理論物理學(xué)

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ISBN：	9787111372554	出版時(shí)間：	2012-08-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	279	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書涵蓋了近現(xiàn)代物理實(shí)驗(yàn)中基本的數(shù)據(jù)處理方法和41個(gè)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目。全書共六章。第0章著重介紹了物理實(shí)驗(yàn)中的誤差和不確定度分析以及常用的數(shù)據(jù)處理方法；第1章主要有原子核衰變規(guī)律、原子結(jié)構(gòu)分析、隧道效應(yīng)應(yīng)用、相對論關(guān)系驗(yàn)證以及放射性測量在環(huán)境評價(jià)中應(yīng)用等實(shí)驗(yàn)內(nèi)容；第2章主要為核磁共振、光磁共振和電子順磁共振等磁共振實(shí)驗(yàn)；第3章主要為光速測量、光譜分析、激光調(diào)Q倍頻、微波的光學(xué)特性驗(yàn)證與模擬以及熱輻射成像等實(shí)驗(yàn)；第4章主要為真空技術(shù)、薄膜材料制備及其性能分析和高溫超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度測量等實(shí)驗(yàn)；第5章主要介紹了目前常用的磁粉、超聲、全息、液體滲透、X射線以及計(jì)算機(jī)斷層掃描（工業(yè)CT）等六種無損檢測實(shí)驗(yàn)方法。本書在重點(diǎn)闡述每個(gè)實(shí)驗(yàn)的基本原理和實(shí)驗(yàn)方法的同時(shí)，有側(cè)重地介紹了部分實(shí)驗(yàn)儀器和裝置，還特別介紹了相關(guān)實(shí)驗(yàn)技術(shù)的歷史背景、應(yīng)用現(xiàn)狀和發(fā)展前景。本書適宜作為高等學(xué)校理工科本科生、研究生的近現(xiàn)代物理類實(shí)驗(yàn)教材，也可作為教師的教學(xué)參考書，還可供相關(guān)實(shí)驗(yàn)技術(shù)人員參考。本書適宜作為高等學(xué)校理工科本科生、研究生的近現(xiàn)代物理類實(shí)驗(yàn)教材，也可作為教師的教學(xué)參考書，還可供相關(guān)實(shí)驗(yàn)技術(shù)人員參考。

作者簡介

暫缺《近現(xiàn)代物理實(shí)驗(yàn)》作者簡介

圖書目錄

前言
第0章實(shí)驗(yàn)中測量誤差的分析與數(shù)據(jù)處理
第1章原子與原子核
實(shí)驗(yàn)1 放射性衰變統(tǒng)計(jì)規(guī)律的研究
實(shí)驗(yàn)2 電子荷質(zhì)比的測定
實(shí)驗(yàn)3 盧瑟福散射與α粒子在空氣中射程的測量
實(shí)驗(yàn)4 冉紹爾湯森效應(yīng)的研究
實(shí)驗(yàn)5 塞曼效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)6 光電效應(yīng)與普朗克常量的測定
實(shí)驗(yàn)7 康普頓散射
實(shí)驗(yàn)8 掃描隧道顯微鏡的使用
實(shí)驗(yàn)9 原子力顯微鏡的使用
實(shí)驗(yàn)10 驗(yàn)證快速電子的動(dòng)量與動(dòng)能的相對論關(guān)系
實(shí)驗(yàn)11 環(huán)境樣品中放射性核素的測量與評價(jià)
第2章磁共振
實(shí)驗(yàn)12 核磁共振
實(shí)驗(yàn)13 光磁共振
實(shí)驗(yàn)14 電子順磁共振
第3章光、激光與光譜
實(shí)驗(yàn)15 光速的測量
實(shí)驗(yàn)15.1 光拍法測量光速
實(shí)驗(yàn)15.2 位相法測光速
實(shí)驗(yàn)16 黑體輻射
實(shí)驗(yàn)17 氫原子光譜及里德伯常量的測量
實(shí)驗(yàn)18 原子吸收光譜的測量
實(shí)驗(yàn)19 脈沖固體激光器的運(yùn)行調(diào)試及參數(shù)測定
實(shí)驗(yàn)20 電光調(diào)Q實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)21 被動(dòng)調(diào)Q實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)22 激光在晶體中的倍頻
實(shí)驗(yàn)23 微波的光學(xué)特性研究
實(shí)驗(yàn)24 熱輻射成像
實(shí)驗(yàn)25 振動(dòng)喇曼光譜的研究
第4章真空材料與低溫
實(shí)驗(yàn)26 直流低氣壓放電現(xiàn)象觀察及伏安特性的測量
實(shí)驗(yàn)27 直流輝光放電等離子體參數(shù)的測量
實(shí)驗(yàn)28 用直流濺射法制備薄膜
實(shí)驗(yàn)29 利用光的干涉測量膜厚
實(shí)驗(yàn)30 薄膜電阻率的測量
實(shí)驗(yàn)31 金屬薄膜電阻的動(dòng)態(tài)監(jiān)測
實(shí)驗(yàn)32 磁性薄膜的磁電阻測量
實(shí)驗(yàn)33 X射線衍射分析物相
實(shí)驗(yàn)34 真空的獲得與真空鍍膜
實(shí)驗(yàn)35 高溫超導(dǎo)體轉(zhuǎn)變溫度的測量
第5章無損檢測
實(shí)驗(yàn)36 磁粉無損檢測
實(shí)驗(yàn)37 X射線照相無損檢測
實(shí)驗(yàn)38 超聲波無損檢測
實(shí)驗(yàn)38.1 超聲波探傷儀水平線性的測定
實(shí)驗(yàn)38.2 材料衰減系數(shù)的測定
實(shí)驗(yàn)38.3 人工缺陷位置的測定
實(shí)驗(yàn)39 光學(xué)全息無損檢測
實(shí)驗(yàn)40 液體滲透檢測
實(shí)驗(yàn)41 工業(yè)CT實(shí)驗(yàn)
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