測試性設計分析與驗證

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縮略語第1章 緒論
1.1 測試性基本概念
1.1.1 測試性定義
1.1.2 測試性技術(shù)框架
1.2 測試性的發(fā)展過程
1.2.1 測試性學科的形成
1.2.2 外部測試技術(shù)的發(fā)展過程
1.2.3 機內(nèi)測試技術(shù)的發(fā)展過程
1.2.4 測試性技術(shù)的新趨勢
1.3 測試性的重要性及對系統(tǒng)特性的影響
1.3.1 測試性的重要性
1.3.2 對基本可靠性的影響
1.3.3 對任務可靠性安全性、成功性的影響
1.3.4 對維修性的影響
1.3.5 對綜合保障的影響
1.3.6 對戰(zhàn)備完好性的影響
1.3.7 對系統(tǒng)性能的影響
1.3.8 對系統(tǒng)壽命周期費用的影響
1.4 測試性參數(shù)
1.4.1 故障檢測率
1.4.2 關(guān)鍵故障檢測率
1.4.3 故障覆蓋率
1.4.4 故障隔離率
1.4.5 虛警率
1.4.6 平均虛警間隔時間
1.4.7 平均故障檢測時間
1.4.8 平均故障隔離時間
1.4.9 平均診斷時間
1.4.10 平均bit運行時間
1.4.11 誤拆率
1.4.12 不能復現(xiàn)率
1.4.13 臺檢可工作率
1.4.14 重測合格率
1.4.15 剩余壽命
1.5 測試性術(shù)語第2章 診斷方案與測試性要求
2.1 概述
2.1.1 診斷方案與測試性要求的關(guān)系
2.1.2 診斷方案與測試性要求發(fā)展
2.2 診斷方案的組成要素與制定程序
2.2.1 診斷方案的基本組成要素
2.2.2 典型診斷方案
2.2.3 診斷方案的制定程序
2.3 測試性要求的確定過程
2.3.1 測試性要求確定的具體過程
2.3.2 測試性要求確定過程示例
2.4 測試性要求分類
2.4.1 按定性、定量分類與示例
2.4.2 按測試手段分類與示例
2.4.3 按維修級別分類與示例第3章 測試性分配
3.1 概述
3.1.1 目的和時機
3.1.2 分配的內(nèi)容和任務
3.1.3 測試，陛分配原則
3.2 檢測與隔離要求的分配方法
3.2.1 等值分配法
3.2.2 按故障率分配法
3.2.3 考慮故障率和費用分配法
3.2.4 綜合加權(quán)分配法
3.2.5 有部分老產(chǎn)品時的分配方法
3.2.6 測試性分配方法比較
3.3 虛警定量要求的分配
3.3.1 虛警定量要求的特點
3.3.2 far指標的分配
3.3.3 mtbfa指標的分配
3.4 測試性分配注意事項第4章 故障模式與測試分析
4.1 故障模式與測試方法分析
4.1.1 概述
4.1.2 分析內(nèi)容與實施流程
4.1.3 分析表格
4.1.4 注意事項
4.2 故障模式與測試擴展分析
4.2.1 擴展分析概述
4.2.2 擴展分析輸入輸出和內(nèi)容
4.2.3 擴展分析的分析流程與實施表格
4.2.4 擴展分析注意事項第5章 基于相關(guān)性模型的測試性設計分析
5.1 概述
5.2 相關(guān)性模型概念
5.2.1 基本假設與定義
5.2.2 相關(guān)性圖示模型
5.2.3 相關(guān)性數(shù)學模型
5.2.4 診斷樹和故障字典
5.2.5 ieee1232模型
5.3 相關(guān)性建模分析方法
5.3.1 相關(guān)性建模分析流程
5.3.2 建立相關(guān)性圖示模型
5.3.3 建立d矩陣模型
5.3.4 優(yōu)選測試點
5.3.5 建立診斷樹和故障字典
5.3.6 診斷能力計算
5.4 應用舉例
5.4.1 不考慮可靠性和費用影響
5.4.2 考慮可靠性影響
5.4.3 同時考慮可靠性和費用影響
5.4.4 只考慮費用影響
5.4.5 比較分析
5.5 注意事項第6章 機內(nèi)測試設計
6.1 概述
6.1.1 bit的實現(xiàn)途徑
6.1.2 bit設計要求
6.1.3 bit設計內(nèi)容
6.1.4 bit設計流程
6.2 機內(nèi)測試系統(tǒng)總體設計
6.2.1 系統(tǒng)功能設計
6.2.2 系統(tǒng)工作模式設計
6.2.3 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)布局設計
6.2.4 系統(tǒng)信息處理設計
6.3 單元機內(nèi)測試設計
6.3.1 測試對象分析
6.3.2 測試功能設計
6.3.3 工作模式設計
6.3.4 測試流程設計
6.3.5 診斷策略設計
6.3.6 軟／硬件設計
6.3.7 信息處理設計
6.4 測試管理器設計
6.4.1 測試管理器功能設計
6.4.2 測試管理器工作模式設計
6.4.3 測試管理器結(jié)構(gòu)層次設計
6.4.4 測試管理器的推理策略設計
6.4.5 測試管理器軟／硬件設計
6.4.6 測試管理器信息處理設計
6.5 bit防虛警設計
6.5.1 確定合理的測試容差
6.5.2 確定合理的故障指示、報警條件
6.5.3 提高bit的工作可靠性
6.5.4 智能bit
6.5.5 其他方法
6.5.6 防虛警設計方法選用原則
6.6 機內(nèi)測試系統(tǒng)應用實例
6.6.1 模擬系統(tǒng)bits
6.6.2 非電子系統(tǒng)bits
6.6.3 f-16戰(zhàn)斗機bits
6.6.4 f／a-18戰(zhàn)斗機bits
6.6.5 “狂風”戰(zhàn)斗機bits
6.6.6 b-1a轟炸機bits
6.6.7 f-35戰(zhàn)斗機bits
6.6.8 a320客機bits
6.6.9 b747-400客機bits
6.6.10 b777客機bits
6.6.11 航天器bits
6.7 注意事項第7章 外部測試設計
7.1 概述
7.2 測試點的選擇和設置
7.2.1 測試點類型
7.2.2 測試點要求
7.2.3 測試點選擇
7.2.4 測試點設置舉例
7.3 測試程序集設計
7.3.1 tps要求
7.3.2 tps研制
7.3.3 接口適配器設計
7.4 兼容性設計
7.4.1 兼容性一般要求
7.4.2 兼容性詳細要求
7.4.3 兼容性偏離的處理
7.4.4兼容性評價
7.4.5 兼容性驗證
7.5 注意事項第8章 測試性設計準則
8.1 測試性設計準則的一般要求
8.1.1 測試性設計準則的目的和作用
8.1.2 制定測試性設計準則依據(jù)
8.1.3 測試性設計準則管理與貫徹
8.2 測試性設計準則的制定程序
8.3 測試性設計準則的內(nèi)容
8.3.1 測試性通用設計準則
8.3.2 測試性設計準則應用
8.4 測試性設計準則的符合性檢查
8.4.1 符合性檢查要求與過程
8.4.2 制定具體系統(tǒng)和設備的測試性設計準則
8.4.3 符合性檢查方法
8.4.4 符合性檢查報告
8.4.5 印制電路板的固有測試性評價方法
8.5 注意事項第9章 測試性預計
9.1 概述
9.1.1 測試性預計的目的和參數(shù)
9.1.2 進行測試性預計工作的時機
9.2 三級維修系統(tǒng)的測試性預計
9.2.1 bit預計
9.2.2 測試性預計
9.3 二級維修系統(tǒng)的測試性預計
9.3.1 bit預計
9.3.2 測試性預計
9.4 其他參數(shù)預計
9.5 注意事項第10章 測試性驗證與評價
10.1 概述
10.1.1 目的
10.1.2 驗證內(nèi)容
10.1.3 工作項目和開展時機
10.2 測試性驗證試驗
10.2.1 一般要求
10.2.2 測試性驗證試驗程序
10.2.3 試驗方案確定
10.2.4 各驗證方案的適用條件
10.2.5 故障樣本的分配
10.2.6 測試性驗證試驗的實施
10.3 虛警的評估驗證
10.3.1 虛警驗證有關(guān)的問題
10.3.2 gjb 2072-94的虛警率驗證方法
10.3.3 gjbz 20045-91的虛警率驗證方法
10.3.4 納入可靠性要求驗證
10.3.5 評估虛警率或平均虛警間隔時間
10.4 測試性核查
10.4.1 目的和適用范圍
10.4.2 核查方法
10.4.3 核查計劃
10.4.4 核查結(jié)果
10.5 測試性分析評價
10.5.1 目的和適用范圍
10.5.2 分析評價方法
10.5.3 分析評價計劃
10.5.4 分析評價結(jié)果
10.6 測試性使用評價
10.6.1 概述
10.6.2 使用期間數(shù)據(jù)收集
10.6.3 數(shù)據(jù)分類處理
10.6.4 診斷能力評估
10.7 測試性驗證數(shù)據(jù)表
10.7.1 數(shù)據(jù)表說明
10.7.2 單側(cè)置信下限估計數(shù)據(jù)表
10.7.3 最低可接收值驗證方案
10.7.4 考慮雙方風險的驗證方案數(shù)據(jù)表
10.7.5 最小樣本量數(shù)據(jù)表第11章 測試性新技術(shù)綜述
11.1 綜合診斷
11.1.1 綜合診斷的提出
11.1.2 綜合診斷的內(nèi)涵和演變
11.1.3 綜合診斷的應用
11.2 預測與健康管理
11.2.1 健康管理的提出和發(fā)展
11.2.2 phm的背景需求
11.2.3 phm的含義和功能
11.2.4 f-35飛機的phm方案
11.2.5 phm中的預測技術(shù)參考文獻