電子元器件可靠性設(shè)計

定　價：￥49.90

作　者：	王蘊輝,于宗光,孫再吉主編
出版社：	科學出版社
叢編項：	電子可靠性工程技術(shù)實踐叢書
標　簽：	計算

購買這本書可以去

ISBN：	9787030196385	出版時間：	2007-09-01	包裝：	平裝
開本：	16	頁數(shù)：	514	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　為使我國電子元器件可靠性技術(shù)的研究和應用邁向一個新臺階，促進元器件固有可靠性水平的提高，我們組織國內(nèi)重點元器件研制生產(chǎn)單位長期從事元器件設(shè)計的專家，在總結(jié)多年可靠性工作經(jīng)驗的基礎(chǔ)上，密切結(jié)合我國元器件的實際情況，編寫此書，呈現(xiàn)給讀者。本書共分9章，內(nèi)容涉及電子元器件可靠性設(shè)計的一般要求；單片集成電路可靠性設(shè)計；混合集成電路可靠性設(shè)計與控制；半導體分立器件可靠性設(shè)計；連接器可靠性設(shè)計；繼電器可靠性設(shè)計；電容器可靠性設(shè)計；微特電機可靠性設(shè)計；聲表面波器件可靠性設(shè)計等。本書內(nèi)容全面，翔實，涵蓋電子元器件可靠性設(shè)計和控制所必需的基本技術(shù)與方法。另外，對各類元器件均給出了應用實例。本書既可作為電子元器件研制、生產(chǎn)單位的培訓教材，也可作為高等院校研究生、本科生的參考教材，同時也可供廣大工程技術(shù)人員參考。

作者簡介

暫缺《電子元器件可靠性設(shè)計》作者簡介

圖書目錄

第1章電子元器件可靠性設(shè)計的一般要求
1.1 電子元器件可靠性的基本概念
1.1.1 電子元器件及分類
1.1.2 電子元器件可靠性的基本概念
1.1.3 影響電子元器件可靠性的因素分析
1.2 電子元器件可靠性設(shè)計的基本概念與基本要求
1.2.1 基本概念
1.2.2 重要性
1.2.3 基本要求
1.2.4 可靠性設(shè)計程序
1.3 電子元器件可靠性設(shè)計指標
1.3.1 穩(wěn)定性設(shè)計指標
1.3.2 極限性設(shè)計指標
1.3.3 產(chǎn)品的失效率、壽命或質(zhì)量等級指標
1.3.4 必須消除或控制的失效模式指標
1.4　電子元器件可靠性設(shè)計的基本內(nèi)容
1.4.1 功能方面的可靠性設(shè)計
1.4.2 結(jié)構(gòu)方面的可靠性設(shè)計
1.4.3 工藝方面的可靠性設(shè)計
1.4.4 可靠性評價試驗設(shè)計
1.5 電子元器件失效分析的基本技術(shù)
1.5.1 失效分析基礎(chǔ)技術(shù)
1.5.2 失效信息統(tǒng)計分析的基本方法
1.6 電子元器件可靠性設(shè)計技術(shù)
1.6.1耐高、低溫設(shè)計技術(shù)
1.6.2 耐熱設(shè)計技術(shù)
1.6.3 耐電應力設(shè)計
1.6.4抗機械應力設(shè)計技術(shù)
1.6.5 穩(wěn)定性設(shè)計
1.6.6 三防設(shè)計技術(shù)
1.6.7抗輻射環(huán)境設(shè)計技術(shù)
1.6.8 控制低氣壓失效的可靠性設(shè)計
1.6.9 防誤操作設(shè)計技術(shù)
1.6.10 消除寄生元器件和潛在通路設(shè)計
1.6.11 最壞情況設(shè)計技術(shù)
1.6.12 優(yōu)化設(shè)計技術(shù)
1.7 電子元器件可靠性設(shè)計階段的可靠性控制技術(shù)
1.7.1 基本概念
1.7.2 控制的作用
1.7.3 控制內(nèi)容與方法
1.8小結(jié)
參考文獻
第2章單片集成電路可靠性設(shè)計
2.1 單片集成電路的類別和設(shè)計特點
2.1.1 類別
2.1.2 設(shè)計特點
2.2 單片集成電路可靠性設(shè)計的基本要求和主要內(nèi)容
2.2.1 基本要求
2.2.2 主要內(nèi)容
2.3 單片集成電路可靠性設(shè)計的基本技術(shù)
2.3.1 電性能穩(wěn)定性設(shè)計
2.3.2 輸出保護電路
2.3.3 輸入保護電路
2.4 單片集成電路版圖的可靠性設(shè)計技術(shù)
2.4.1 對稱性設(shè)計方法
……
第3章　混合集成電路可靠性設(shè)計與控制
第4章　半導體分立器件可靠性設(shè)計
第5章　連接器可靠性設(shè)計
第6章　繼電器可靠性設(shè)計
第7章　電容器可靠性設(shè)計
第8章　微特電機可靠性設(shè)計
第9章　聲表面波器件可靠性設(shè)計
后記