數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試與可測(cè)試設(shè)計(jì)

定　價(jià)：￥56.00

作　者：	（美）阿布拉莫韋奇等著，李華偉等譯
出版社：	機(jī)械工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	電子工程叢書
標(biāo)　簽：	數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)

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ISBN：	9787111192374	出版時(shí)間：	2006-08-01	包裝：	膠版紙
開本：	16開	頁(yè)數(shù)：	449	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書系統(tǒng)介紹數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試的理論和方法，深入探討測(cè)試生成、故障模型、故障模擬、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、內(nèi)建自測(cè)試等主題，包括該領(lǐng)域的最新進(jìn)展，并提供大量支持實(shí)踐應(yīng)用的理論資料。本書共分15章，前8章主要介紹基礎(chǔ)的測(cè)試?yán)碚摵头椒?，包括?shù)字系統(tǒng)、數(shù)字微系統(tǒng)芯片缺陷的來(lái)源、邏輯描述的方法、故障建模、故障模擬、測(cè)試單固定型故障、測(cè)試橋接故障、智能數(shù)字系統(tǒng)的功能測(cè)試及其范圍；第9～11章主要介紹數(shù)字系統(tǒng)的可測(cè)試性設(shè)計(jì)、內(nèi)建自測(cè)試、測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮等現(xiàn)代測(cè)試?yán)碚摵头椒?；?2～15章主要討論一些高級(jí)測(cè)試?yán)碚摵头椒?，包括邏輯?jí)與系統(tǒng)級(jí)診斷、自校驗(yàn)設(shè)計(jì)和可編程邏輯陣列測(cè)試。 .本書可作為電路CAD技術(shù)人員、芯片和系統(tǒng)設(shè)計(jì)者以及測(cè)試工程師的參考資料，也可作為高等院校相關(guān)專業(yè)高年級(jí)本科生或研究生的教材。...

作者簡(jiǎn)介

　　本書提供作譯者介紹李華偉：中國(guó)科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所副研究員，先進(jìn)測(cè)試技術(shù)實(shí)驗(yàn)室副主任，博士生導(dǎo)師。1996年在湘潭大學(xué)計(jì)算機(jī)科學(xué)系獲學(xué)士學(xué)位。1999年和2001年分別在中科院計(jì)算技術(shù)研究所獲碩士學(xué)位和博士學(xué)位。主要研究領(lǐng)域?yàn)榧呻娐窚y(cè)試，在國(guó)內(nèi)外刊物和國(guó)際學(xué)術(shù)會(huì)議上發(fā)表論文60余篇，授權(quán)發(fā)明專利一項(xiàng)。獲中國(guó)科學(xué)院院長(zhǎng)獎(jiǎng)學(xué)金特別獎(jiǎng)（2001年）、中國(guó)科學(xué)院杰出科技成就獎(jiǎng)（2003年）及中國(guó)計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)創(chuàng)新獎(jiǎng)（入圍獎(jiǎng)／2005年）。.魯?。篠ynopsys公司工程師，計(jì)算機(jī)博士。2000年在哈爾濱理工大學(xué)計(jì)算...

圖書目錄

譯者序
譯者簡(jiǎn)介
中文版前言
前言
本書是如何寫出來(lái)的
第1章緒論
第2章建模
2.1 基本概念
2.2 邏輯級(jí)的功能建模
2.3 寄存器級(jí)的功能建模
2.4 結(jié)構(gòu)模型
2.5 建模的層次
參考文獻(xiàn)
習(xí)題
第3章邏輯模擬
3.1 應(yīng)用
3.2 基于模擬設(shè)計(jì)驗(yàn)證中的問(wèn)題
3.3 模擬的類型
3.4 未知的邏輯值
3.5 編譯后模擬
3.6 事件驅(qū)動(dòng)模擬
3.7 葉延模型
3.8 元件求值
3.9 冒險(xiǎn)檢測(cè)
3.10 門級(jí)事件驅(qū)動(dòng)模擬
3.11 模擬引擎
參考文獻(xiàn)
習(xí)題
第4章故障模型
4.1 邏輯故障模型
4.2 故障檢測(cè)和冗余
4.3 故障等價(jià)和故障定位
4.4 故障支配
4.5 單固定型故障模型
4.6 多固定型故障模型
4.7 固定的RTL變量
4.8 故障變量
參考文獻(xiàn)
習(xí)題
第5章故障模擬
5.1 應(yīng)用
5.2 通用故障模擬技術(shù)
5.3 組合電路的故障模擬
5.4 故障采樣
5.5 統(tǒng)計(jì)故障分析
5.6 本章小結(jié)
參考文獻(xiàn)
習(xí)題
第6章單固定型故障測(cè)試
6.1 基本問(wèn)題
6.2 組合電路中的單固定型故障的自動(dòng)測(cè)試生成
6.3 時(shí)序電路SSF的ATC
6.4 本章小結(jié)
參考文獻(xiàn)
習(xí)題
第7章橋接故障測(cè)試
7.1 橋接故障模型
7.2 無(wú)反饋橋接故障的檢測(cè)
7.3 橋接故障的檢測(cè)
7.4 橋接故障模擬
7.5 橋接故障的測(cè)試生成
7.6 本章小結(jié)
參考文獻(xiàn)
習(xí)題
第8章功能測(cè)試
……
第9章可測(cè)試性設(shè)計(jì)
第10章測(cè)試壓縮技術(shù)
第11章內(nèi)建自測(cè)試
第12章邏輯級(jí)診斷
第13章自校驗(yàn)設(shè)計(jì)
第14章 PLA測(cè)試
第15章系統(tǒng)級(jí)診斷
索引