儀器分析導(dǎo)論（第三冊(cè)）

　　簡(jiǎn)介 《儀器分析導(dǎo)論》是介紹儀器分析方法的入門書。全書共四冊(cè)，前三冊(cè)共編入了20余種儀器分析方法，第四冊(cè)為數(shù)據(jù)集。本冊(cè)是這套書的第三冊(cè)，包括：熱分析、原子吸收光譜法、發(fā)射光譜法、電感耦合等離子體光譜法（包括ICP質(zhì)譜法）、熒光X射線分析法、粉末X射線衍射法、化學(xué)分析電子能譜法、電子顯微鏡（透射型、掃描型）、循環(huán)伏安法、拉曼光譜法等。本書內(nèi)容精煉，簡(jiǎn)明易懂，實(shí)用性強(qiáng)，非常適合初學(xué)者自學(xué)。 目錄 第1章熱分析荒川剛1 11引言1 12熱分析可提供的信息2 13熱重法3 14差熱分析7 15差示掃描量熱法15 16數(shù)據(jù)解析軟件的利用23 參考文獻(xiàn)24第2章原子吸收光譜法平嶋 克享25 21何謂原子吸收光譜25 22原子吸收光譜可提供的信息25 23儀器簡(jiǎn)介26 24測(cè)量方法及分析值的求法31 參考文獻(xiàn) 41第3章發(fā)射光譜法大 泰章43 31何謂發(fā)射光譜43 32原子光譜可提供的信息44 33儀器簡(jiǎn)介44 34樣品的制備48 35測(cè)量及其結(jié)果觀察方法51 參考文獻(xiàn)55 第4章電感耦合等離子體光譜法（包括ICP質(zhì)譜法） 大 泰章57 41ICP原理57 42ICP發(fā)射光譜58 43ICP質(zhì)譜法65 參考文獻(xiàn)69第5章熒光X射線分析法戸田 勝久71 51引言71 52熒光X射線分析可提供的信息71 53儀器簡(jiǎn)介72 54樣品的制備76 55測(cè)量結(jié)果的觀察方法82 56FP（基本參數(shù)）法定量分析88 57結(jié)語91第6章粉末X射線衍射法足立 也93 61引言93 62X射線衍射分析可提供的信息94 63儀器簡(jiǎn)介95 64儀器的操作方法97 65試樣的制備102 66委托分析時(shí)的注意事項(xiàng)104 67操作105 68結(jié)果的解析105 參考文獻(xiàn)112第7章化學(xué)分析電子能譜法中島剛113 71引言113 72化學(xué)分析電子能譜法可提供的信息114 73儀器簡(jiǎn)介117 74樣品的制備和操作119 75譜圖解析120 參考文獻(xiàn)127第8章電子顯微鏡（透射型、掃描型） 小林 史磯田 正二129 81引言129 82透射電子顯微鏡可提供的信息130 83儀器簡(jiǎn)介130 84試樣支持膜的制備方法132 85試樣的制備方法133 86電子束衍射136 87圖像襯度的解釋140 88利用電子顯微鏡進(jìn)行元素分析142 89掃描型電子顯微鏡144 810掃描型電子顯微鏡可提供的信息144 811掃描型電子顯微鏡儀器簡(jiǎn)介146 812二次電子像與反射電子像148 813掃描型電子顯微鏡的試樣制備151 814掃描型電子顯微鏡圖像的觀測(cè)技術(shù)153 815為測(cè)得優(yōu)質(zhì)圖像的注意事項(xiàng)156 參考文獻(xiàn)157第9章循環(huán)伏安法松下 之159 91引言159 92CV測(cè)量法可提供的信息160 93CV測(cè)量法概況160 94CV的基礎(chǔ)161 95CV測(cè)量170 96微型電極與高速掃描174 97測(cè)量步驟174 98結(jié)語175 參考文獻(xiàn)175第10章拉曼光譜法北川 禎三177 101引言177 102何謂拉曼散射178 103拉曼光譜可提供的信息——紅外吸收和拉曼散射181 104拉曼光譜的測(cè)量183 105分光器的波數(shù)校準(zhǔn)195 106偏振光測(cè)量197 107時(shí)間分辨測(cè)量及在短壽命分子上的應(yīng)用199 108結(jié)語201 參考文獻(xiàn)201附錄203 附錄1發(fā)射光譜法主要元素的靈敏度和定量范圍203 附錄22θd對(duì)照表（Cu）204 附錄3無機(jī)半波電位表（由T.Fujinag設(shè)計(jì)）207 附錄4用Mg Kα線測(cè)量時(shí)的光電子能譜峰位置208 附錄5各元素光電子峰相對(duì)強(qiáng)度210 附錄6ICP發(fā)射光譜法主要元素的檢測(cè)靈敏度214 附錄7氬激光器的自然發(fā)射線215 附錄8ICP質(zhì)譜法主要元素的檢測(cè)限216 附錄9ICP質(zhì)譜法低分辨率時(shí)的元素檢測(cè)限比較217

暫缺《儀器分析導(dǎo)論（第三冊(cè)）》作者簡(jiǎn)介