電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗指導書

第一部分 模擬電路實驗
實驗一 常用儀器的使用
實驗二 單級放大電路
實驗三 兩級放大電路
實驗四 負反饋放大器
實驗五 射極跟隨器
實驗六 差動放大電路
實驗七 比例求和運算電路
實驗八 積分與微分電路
實驗九 波形發(fā)生電路
實驗十 有源濾波器
實驗十一 電壓比較器
實驗十二 集成電路RC正弦波振蕩器
實驗十三 集成功率放大器
實驗十四 整流濾波與并聯(lián)穩(wěn)壓電路
實驗十五 串聯(lián)穩(wěn)壓電路
實驗十六 集成穩(wěn)壓器
實驗十七 RC正弦波振蕩器
實驗十八 LC振蕩器及選頻放大器
實驗十九 電流/電壓轉(zhuǎn)換電路
實驗二十 電壓/頻率轉(zhuǎn)換電路
實驗二十一 互補對稱功率放大器
實驗二十二 波形變換器
第二部分 數(shù)字電路實驗
基本實驗
實驗一 門電路邏輯功能及測試
實驗二 組合邏輯電路（半加器、全加器及邏輯運算）
實驗三 觸發(fā)器（一）R_S，D，J-K
實驗四 觸發(fā)器（二）三態(tài)輸出觸發(fā)器及鎖存器
實驗五 時序電路測試及研究
實驗六 集成計數(shù)器及寄存器
實驗七 譯碼器和數(shù)據(jù)選擇器
實驗八 波形產(chǎn)生器及單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
實驗九 555時基電路
選做實驗
實驗十 COMS門電路測試
實驗十一 TS門、OC門的功能測試及應(yīng)用
實驗十二 TTL不同系列芯片性能和參數(shù)的測定
實驗十三 門電路的驅(qū)動能力測試
實驗十四 邏輯筆實驗與分析
實驗十五 HTL電路
實驗十六 MSI加法器
實驗十七 競爭冒險
實驗十八 觸發(fā)器的應(yīng)用
實驗十九 寄存器及其應(yīng)用
實驗二十 計數(shù)器MSI芯片的應(yīng)用
實驗二十一 時序電路的應(yīng)用
實驗二十二 順序脈沖和脈沖分配器電路
實驗二十三 施密特觸發(fā)器及其應(yīng)用
實驗二十四 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器及其應(yīng)用
實驗二十五 多路模擬開關(guān)及其應(yīng)用
實驗二十六 數(shù)字定時器
實驗二十七 電壓變換器
實驗二十八 四路優(yōu)先判決電路
實驗二十九 電子校音器
實驗三十 示波器多蹤顯示接口
附錄
一 Electronics Workbench簡介
二 使用菜單
三 測試儀器
四 模擬電子技術(shù)EDA實驗實例
五 集成塊引腳
參考文獻