預(yù)應(yīng)力混凝土

第1章自動測試系統(tǒng)概述
1.1自動測試系統(tǒng)的發(fā)展
1.1.1自動測試系統(tǒng)的概念與組成
1.1.2自動測試系統(tǒng)的應(yīng)用范圍
1.1.3自動測試系統(tǒng)的發(fā)展概況
1.2自動測試設(shè)備和測試程序集
1.2.1自動測試設(shè)備
1.2.2ATE的類型
1.2.3測試程序集
1.3自動測試系統(tǒng)的研制過程和研制策略
1.3.1ATE的開發(fā)過程及研制策略
1.3.2TPS開發(fā)過程
1.4通用自動測試系統(tǒng)簡介
1.4.1早期的自動測試系統(tǒng)
1.4.2近期的通用自動測試系統(tǒng)
1.5開關(guān)系統(tǒng)設(shè)計
1.6自動測試系統(tǒng)研制中涉及的主要標(biāo)準(zhǔn)
1.6.1系統(tǒng)研制及軟件開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)
1.6.2硬件系統(tǒng)組建標(biāo)準(zhǔn)
1.6.3測試及診斷信息標(biāo)準(zhǔn)
1.7虛擬儀器技術(shù)對自動測試系統(tǒng)發(fā)展的影響
1.7.1虛擬儀器的概念和結(jié)構(gòu)
1.7.2ATE中的虛擬測量儀器
1.7.3ATE中的虛擬激勵源
1.7.4虛擬儀器的軟件框架
1.7.5虛擬儀器對軍用ATE發(fā)展的影響
1.8通用測試語言ATLAS
1.8.1IEEE716-95與ARINC626-3的比較
1.8.2ATLAS2000的主要特點(diǎn)
1.8.3ATLAS2000對現(xiàn)有的ATLAS語言的主要改進(jìn)
1.9維修故障診斷策略和診斷技術(shù)
1.9.1故障檢測與診斷策略
1.9.2維修分級與綜合診斷策略
1.9.3智能故障診斷方法綜述
第2章測試總線技術(shù)
2.1測試總線的概念
2.1.1總線的基本規(guī)范內(nèi)容
2.1.2總線的性能指標(biāo)
2.1.3總線的類型
2.2GPIB通用接口總線
2.2.2GPIB及IEEE488的發(fā)展
2.2.2IEEE488.1標(biāo)準(zhǔn)
2.2.3IEEE488.2標(biāo)準(zhǔn)
2.2.4IEEE488的性能擴(kuò)展
2.2.5HS488高速掛鉤協(xié)議的GPIB接口總線
2.3VME總線
2.3.1VME總線概述
2.3.2VME總線標(biāo)準(zhǔn)的形成與發(fā)展
2.3.3VME總線的系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)
2.3.4VME總線的硬件機(jī)械結(jié)構(gòu)
2.3.5VME64x的信號定義和連接器結(jié)構(gòu)
2.3.6VME總線的應(yīng)用
2.4VXI總線
2.4.1VXI總線的特點(diǎn)
2.4.2VXI總線的機(jī)械構(gòu)造
2.4.3VXI總線的電氣性能
2.4.4VXI技術(shù)的發(fā)展和新的技術(shù)規(guī)范
2.4.5MXI接口總線
2.5CompactPCI和PXI總線
2.5.1CompactPCI總線技術(shù)
2.5.2PXI總線技術(shù)
2.6USB/IEEE1394通用串行總線
2.6.1USB概況
2.6.2USB的基本性能
2.6.3USB系統(tǒng)的架構(gòu)和通信模型
2.6.4USB集線器
2.6.5USB總線協(xié)議和數(shù)據(jù)流類型
2.6.6USB設(shè)備的配置和通用操作
2.6.7USB物理接口的特性
2.6.8IEEE1394
第3章自動測試系統(tǒng)的軟件控制技術(shù)
3.1虛擬儀器設(shè)備控制概念
3.2即插即用軟件標(biāo)準(zhǔn)
3.3虛擬儀器系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
3.3.1概述
3.3.2軟件交互調(diào)試工具
3.3.3VISA技術(shù)入門術(shù)語
3.4IVI可互換虛擬儀器
3.4.1儀器驅(qū)動程序概述
3.4.2IVI儀器驅(qū)動程序
3.4.3用戶如何使用IVI儀器驅(qū)動程序
3.4.4IVI儀器驅(qū)動程序結(jié)構(gòu)
3.4.5IVI驅(qū)動程序舉例
第4章自動測試系統(tǒng)硬件集成技術(shù)
4.1自動測試系統(tǒng)硬件組成
4.2自動測試設(shè)備的類型及框圖
4.3自動測試系統(tǒng)硬件集成
4.3.1影響自動測試系統(tǒng)硬件集成的主要因素
4.3.2自動測試系統(tǒng)硬件集成過程
4.3.3測試系統(tǒng)硬件集成策略
4.4控制器的選擇與配置
4.4.1外置控制器
4.4.2嵌入式控制器
4.5開關(guān)系統(tǒng)設(shè)計
4.5.1開關(guān)系統(tǒng)設(shè)計原則
4.5.2開關(guān)的類型和開關(guān)模塊的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)
4.5.3典型開關(guān)產(chǎn)品性能參數(shù)比較
4.5.4延長開關(guān)壽命的設(shè)計
4.5.5開關(guān)系統(tǒng)的配置
4.5.6開關(guān)系統(tǒng)設(shè)計舉例
4.6信號接口裝置設(shè)計
4.6.1信息接口裝置的類型
4.6.2通用信號接口裝置機(jī)械結(jié)構(gòu)
4.6.3通用測試接口的定義與連接
4.6.4接口適配器的設(shè)計
4.6.5ATE系統(tǒng)校準(zhǔn)策略與校準(zhǔn)適配器的設(shè)計
4.7可靠性與安全性設(shè)計
4.7.1可靠性設(shè)計
4.7.2抗干擾設(shè)計
4.7.3安全性設(shè)計
第5章自動測試系統(tǒng)軟件研制技術(shù)
5.1測試軟件的組成及結(jié)構(gòu)
5.1.1測試軟件技術(shù)的發(fā)展
5.1.2虛擬測試系統(tǒng)的概念及組成
5.1.3虛擬測試系統(tǒng)的體系結(jié)構(gòu)
5.2自動測試系統(tǒng)的應(yīng)用軟件開發(fā)工具
5.2.1LabVIEW
5.2.2MeasurementStudio（測量工作室）
5.2.3LabWindows/CVI
5.2.4TestStand（測試站）
5.2.5PAWS
5.2.6TestBase
5.2.7虛擬儀器測試環(huán)境VITE
5.2.8通用數(shù)據(jù)采集工作站軟件包DAS
5.3通用測試語言及其應(yīng)用
5.3.1ATLAS發(fā)展概況
5.3.2ARINC626和IEEE716的特點(diǎn)
5.3.3ATLAS2000語言
5.4專用自動測試系統(tǒng)的軟件研制
5.4.1研制計劃
5.4.2需求分析
5.4.3系統(tǒng)設(shè)計
5.4.4程序設(shè)計
5.4.5軟件測試
5.5通用測試軟件研制技術(shù)基礎(chǔ)
5.5.1組件設(shè)計技術(shù)
5.5.2虛擬儀器接口對象模型技術(shù)
5.5.3模型驅(qū)動體系結(jié)構(gòu)設(shè)計技術(shù)
5.5.4故障診斷
5.6測試程序集的開發(fā)方法
5.6.1系統(tǒng)資源接口設(shè)計
5.6.2測試程序設(shè)計
5.7自檢.自校及可靠性.安全性設(shè)計
5.7.1自檢
5.7.2軟件維護(hù)過程
5.7.3自校
5.7.4可靠性及安全性
第6章自動測試系統(tǒng)的集成方法與步驟
6.1ATS開發(fā)與集成過程
6.2測試需求分析及文件編寫
6.2.1測試需求分析的內(nèi)容
6.2.2測試需求文檔舉例
6.3自動測試系統(tǒng)總體方案設(shè)計
6.3.1系統(tǒng)電氣連接形式
6.3.2控制方式
6.3.3系統(tǒng)總線構(gòu)型
6.3.4系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
6.4自動測試系統(tǒng)硬件設(shè)計
6.4.1硬件需求分析
6.4.2測試資源選型
6.4.3檢測接口裝置及信號定義
6.5自動測試系統(tǒng)軟件研制過程
6.5.1自動測試系統(tǒng)軟件結(jié)構(gòu)
6.5.2軟件文檔
6.5.3軟件平臺設(shè)計
6.5.4測試程序設(shè)計
6.5.5軟件研制過程
6.6系統(tǒng)驗收測試
6.6.1概述
6.6.2常規(guī)驗收
6.6.3定期試驗
6.6.4可靠性驗收試驗和維修性驗證試驗
附錄1自動測試系統(tǒng)部分成果項目
附錄2英文縮寫詞