半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化

定　價：￥16.40

作　者：	（英）M.J.豪斯（M.J.Howes），（英）D.V.摩根（D.V.Morgan）主編；李錦林等譯
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	電路

ISBN：	9787030011640	出版時間：	1989-01-01	包裝：
開本：	21cm	頁數(shù)：	463頁	字數(shù)：

　　本書闡述了用硅、砷化鎵及磷化銦等材料制作的雙極型晶體管，場效應(yīng)晶體管、發(fā)光二極管、半導(dǎo)體激光器以及微波集成電路等各種半導(dǎo)體器件和電路的可靠性和退化問題。

暫缺《半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化》作者簡介

暫缺《半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化》目錄

掃描二維碼