表面與薄膜分析基礎

定　價：￥3.35

作　者：	（美）[費爾德曼]Leonard C.Feldman，（美）[邁耶]James W.Mayer著；嚴燕來，蔣平譯
出版社：	復旦大學出版社
叢編項：
標　簽：	工程材料表面分析

ISBN：	9787309003604	出版時間：	1989-10-01	包裝：
開本：	20cm	頁數(shù)：	403頁	字數(shù)：

　　本書論述了用于材料表面和薄膜的各種重要的現(xiàn)代分析技術，包括背散射譜、低能電子衍射、次級離子質(zhì)譜、廣延X射線精細結(jié)構(gòu)、光電子譜及核技術等。

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